GBT 22093-2008 电子数显内径千分尺.pdf

ICS17.040.30
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中华人民共和国国家标准
GB/T22093-~-2008
电子数显内径千分尺
Internal micrometer with electronic digital display
2008-06-25发布
2009-01-01实施
中华人民共和国家质量监督检验检疫总局发布
中国国家标准化管理委员会
GB/T22093--2008
前言
本标准的附录A、附录B均为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归。
本标准负责起草单位:苏州麦克龙测量技术有限公司。
本标准参加起草单位:成都工具研兖所。
本标准主要起草人:黄晓宾、张洪玲、姜志刚。
GB/T22093~-2008
电子数显内径干分尺
范围
本标准规定了电子数显内径千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标
志与包装等。
本标准适用于分辨力高于或等于0.001mm,量程小于或等于100mm,测量范围上限至500mm的
电子数显内径千分尺。测量范围500mm~6000mm的电子数显内径千分尺参见附录B。
2规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准
GB/T1216-2004外径干分尺
GB/T1800.4-1999极限与配合标准公差等级和孔、轴的极限偏差表( egy ISC286-2:1988)
GB/T2423.3~-2006电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Cab:恒定湿热试验
(IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.2-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化
(IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB4208-2008外壳防护等级(IP代码)
GB/T17163几何量测量器具术语基本术语
GB/T17164几何量测量器具术语产品术语
GB/T17626.2-2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验(IEC610004-2:2001
IDT)
GB/T17626.3~2006电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC610004-
2002,IDTr)
术语和定义
GB/T17163、GB/T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准
电子数显千分尺数显装置 clectronic digital indicating devices for micrometer
利用角度传感器、电子和数字显示技术,计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简
称“电子数显装置”。
最大允许误差(MPE) maximum permissible error
由技术规范、规则等对电子数显内径千分尺规定的误差极限值
型式与基本参数
4.1型式
电子数显内径千分尺的型式见图1、图2。图示仅供图解说明,不表示详细结构。
GB/T22093~-2008
量面
电子数显装
锁紧装堡
微分筒
「TEE
A1型
测量面
长度接杆
电子数显装置
锁紧装
分筒
测绿面
L
45
140
A2型
A型:电子数显2点内径千分尺,测微蝶杆轴线与角度传感器的轴线和测量面的位移同轴
速量面
紧装置
电子教显装置
分筒
测力装
B型:电子数显2点内径千分尺,测微架抒轴线与角度传感器的轴线同轴,与测量面的位移平行
量面
测头
电子数显装置
力装量
C型:电子数显2点内径千分尺,测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴,与测量面的位移垂直
图1电子数显2点内径千分尺的型式示意图
GB/T22093~2008
测量面
汹头
深度接杄
电子数显装
测力装置
D型:电子数显3点内径千分尺,测微螺杆轴线与角度传感器的轴线同轴,与测量面的位移垂直
量面
洲头
滦度接杆
电子数显装置
测力装置
量爪
(『
E型:电子数显3点内径千分尺,测微螺桁轴线与测量面的位移问轴,与角废传愍器的轴线垂真
图2电子数显3点内径千分尺的型式示意图
4.2基本参数
4.2.1电子数显内径于分尺测微螺杆的螺距宜为0.5mm或1mnm。
4.2.2A型、B型电子数显内径千分尺的量程宜为25mm,测量范固的下限宜为5m或25mm的整
数倍
4.2.3C型、D型、E型电子数显内径千分尺的测量范围的下限宜为整数。
5要求
5.1外观
5.1.1电子数显内径千分尺表面不应有影响外观和使用性能的裂痕、划伤、碰伤、锈蚀、毛刺等缺陷
5.1.2电子数显内径千分尺表面的镀、涂层不应有脱落和影响外观的色泽不均等缺陷。
5.1.3电子数显装置的数字显示屏应透明、清洁,无划痕、气泡等影响读数的缺陷。
5.2材料
测微螺杄应选掙合金工具钢、不锈钢或其他性能类似的材料制造;测量面宜镶硬质合金或其他耐磨
材料。
5.3相互作用
5.3.1测徵媒杆和螺母之间在全量程范圃内应充分啮合,配合良好,不应出现卡滞和明显窜动。
5.3.2D型、E型电子数显内径千分尺的量爪与槽或孔之间的配合应良好,且移动自如,不应出现卡
滞,沿测量面轴线方向不应有明显摆动。
5.4锁紧装置
A型电子数显内径干分尺应具有锁紧装置。锁紧装置应能有效地锁紧测微螺杆。锁紧前后,两测
量面间距离变化应不大于2m。
5.5测力装置
B型、C型、D型、E型电子数显内径千分尺应具有测力装置。通过测力装置作用到测量面的测量