JBT 6079-1992 电子数显外径千分尺.pdf
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- JBT 6079-1992 电子数显外径千分尺 6079 1992 电子 外径 千分尺
- 资源描述:
-
J42
中华人民共和国机械行业标准
JB607992
电子数显外径千分尺
1992-05-16发布
1993-01-01实施
中华人民共和国机械电子工业部发布
中华人民共和国机械行业标准
JD6079-92
电子数显外径千分尺
1主题内容与适用范围
际准规定了电子数显外径于分尺的术语、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装
本标准适用于分辨率为0.001mm或0.0001mm,最大测量范围至99.999mm的测微螺杄的电
子数显外径千分尺(以下简称千分尺)
2引用标准?
GB2423,3电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法
GB2423,22电工电子产品基本环境试验规程试強N:温度试验方法
3术语
3.1电子数显外径干分尺
利用螺旋副原理使尺架上两测量面问分隔的讵离通过电子技术和显示装置进行读数的测量器具。
4产品分类
4.1型式
于分尺的型式见下图。
测微
制动装置
固定套管
微分筒硝力装
K
nf Ann
隔热装
按
注图示仅作参考,不供表示详细结构之用
图1
机械电子工业部1992-05-16批准
1993-01-01实施
JB6079-92
4.2基本参数
4-2.1洲量范围:0~25,25~50,50~75、75~99,999mm
4.2.2测微螺杄和测砿的测量端直径应为6.5mm或8mm
4.3千分尺应具有测力装置、隔热装置和紧固测徵螺轩的锁紧装置。
5技术要求
5.1千分尺不得有影响使用性能的外部缺陷,数字显示应清晰。
5.2千分尺各工作按钮应灵活可靠,测徴螺移动应平稳,无卡滞现象,其径向和轴向间原应不大于
0.01mm。
5.3千分尺两测量画偏位值应不大于表1的规定。
表1
渊逯范
偏位值
0.05
0.08
0.12
75~99.999
0.15
5.4于分尺锁紧装置应能保证可靠地锁紧测微螵杅,锁紧时两测量面平行度变化应不大于0.001
n。
5.5千分尺测量面应镍硬质合金
5.6千分尺测量面的表面粗糙度R的最大允许值为0.05m。
5-7千分尺测量面与球面接触时的湖力应为5~1①N,测力变化应不大于2N
5-8千分尺尺架沿测微螺杆轴线ガ向受10N时的变形量应不大于表2的规定
表2
测量范围
变形量
0~25,25~50
0.002
50~75,7599.999
0,003
5-9千分尺测量面平面度公差为0.3m。
5.10于分尺示值误差和两測量面平行度公差现表3。
测量范围
示值误差
平行度公差
0-と5
0.001
士0,002
0.G015
50~75
士0
0.002
75~99。990
5.11千分尺的示值变动性应不大于-0.001mm。
5.12千分尺两测量而在任意位置时数值的漂移应不大于0.001mm
3測量上限等于和大于50.mm的于分尺应附有校对量杆。
5-14校对量杅的尺寸偏差和两测量面的平行度公差见表4。
JB6079--92
标称尺
尺
偏差
行度公差
士0.00
0.001
±0.0015
75
0.0O]
5.15校对量杆应有将热装置。
6校对量杄测量面硬度应不低于766HV(へ62HRC)。
5.17校对量杆测量画的表面粗糙度R,的最大允许值为0.05rm
6试验方法
6.1千分尺湿热试验按GB2423.3
6.2千分尺高低温试验按GB2423.22。
7检验规则
检验方法见附录A(补充件)。
8标志和包装
8.1标志
8-.1.1千分尺上应标志
a.彻造厂厂名或注册商标;
b.测量范围;
c.分辨率
d.产品序号。
8.1.2校对量杆上应标志标称尺寸
8.1.3包装盒上应标志
a.制造厂厂名或注册商标
b.产品名称;
测量范?;
d.分辨率。
8-2千分尺在包装前应经防锈处理,并妥善包装,不得因包装不善而损坏产品
8.3千分尺应有使用说明书和产品合格证,产品合格证上应标有本标准的标准编号、产品序号和出厂
日期
JB6079-92
附录A
千分尺的检验方法
补充件)
A1检定条件
千分尺检定时室内温度为20土3℃,相对湿度不大于80%
2外观
日力观察。
A3径向和轴向间隙
A31用手感检査径向问隙。有异议时,则将干分尺夹在专用检具上,在距尺架内端面10mm处测出
径向间隙值。
A32用手感检査轴向问隙。如有异议时,蚓在专用检具上测出其轴向阿隙值。
A4两测面偏位
測量范围为0~25mm用塞尺比较;大于0~25mm用专用检具测出偏位值。
A5锁紧时两测量面平行度変化
用平行平晶观察干涉带条纹变化
A6测量面表面粗慥度
用表丽粗糙度比较样块比较。如有异议时用表面粗糙度仪检查
A7测力和测力变化
用千分尺专用测力计测出测力和测力变化值。
A8尺架受力变形
将千分尺尺架一端垂直安放并固定在平台上的专用夹具上,用1am杠杆干分表接触測酤测量面
进行读数。然后沿测微螺杄轴线方向拄10N的重锤,再在杠杆千分表上进行读数,两次读数差即为尺
架受力変形。
A9测量面平面度
将光学平面平品与测量面贴合,读取光波干涉条纹数
A10示值误差和两測量面平行度
A10.1示值误差
对0~25mm的千分尺以两测量面接触对零。对测量下限等于或大于25mm的于分尺用下限尺寸
的量块对零。经对零后放入下表所列的一组1级精度的量块进行捡测。对具有机被读数装置的亦应达
到规定的要求。
量块尺寸见表A1
展开阅读全文
文档分享网所有资源均是用户自行上传分享,仅供网友学习交流,未经上传用户书面授权,请勿作他用。



链接地址:https://www.wdfxw.net/doc52616580.htm