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类型GBT 20919-2007 电子数显外径千分尺.pdf

  • 上传人:qbssnc
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  • 上传时间:2017-06-17
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    关 键  词:
    GBT 20919-2007 电子数显外径千分尺 20919 2007 电子 外径 千分尺
    资源描述:
    ICS17.040.30
    42
    CB
    中华人民共和国国家标准
    GB/T20919--2007
    电子数显外径干分尺
    External micrometer with electronic digital display
    2007-04-30发布
    2007-10-01实施
    数防
    中国国家标准化管理委员会发布
    GB/"T20919-200
    电子数显外径千分尺
    1范围
    本标准规定了电子数显外径千分尺上的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法
    标志与包装等。
    本标准适用于分力高于或等于0.001mm,量程小于或等于30mm,测量范固上限至500mm的
    电子数显外径千分尺(以下简称“电子数显千分尺")
    2规范性引用文件
    下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件?其随后所有
    的修改单(不包括误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
    是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准
    GB/T1800.4-1999极限与配合标准公差等级和孔、轴的极限偏差表(eqv1S0286-2:1988)
    GB/T2423.31993电工电子产品基本环境试验规程试验Ca:恒定湿热试验方法
    ( eqv IEC60068-2-3:1984)
    GB/T2423.22-2002电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化
    (EC 60068-2-14: 1984, Basic environmental testing procedures Part 2: Tests--test N: Change of tem-
    perature, IDT)
    GB4208-1993外壳防护等级(IP代码)( ev IEC529:1989)
    GB/T17163几何量测量器具术语基本术语
    GB/T17164几何量测量器具术语产品术语
    GB/T17626.2-1998电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验( idt IEC610004-2
    1995)
    GB/T17626.3-1998电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度试验
    ( idt IEC61000-4-3:1995)
    3术语和定义
    GB/T17163和GB/T17164中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
    电子数显千分尺数显装置 eleetronie digital indicating devices for micrometer
    利用角度传感器、电子和数字显示技术,计算并显示电子数显千分尺的螺旋副位移的装置。以下简
    称“电子数显装置”
    最大允许误差(MPE) maximum permissible error
    由技术规范、规则等对电子数显千分尺规定的误差极限值。
    4型式与基本参数
    4.1型式
    电子数显千分尺的型式见图1所示。图示仅供图解说明,不表示详细结构
    GB/T20919-2007
    尺测微螺杆顿装置
    定套管微分简
    想力装置
    热装置/能健/电
    配示
    数显千分尺的型式示意图
    4.2基本参数
    4.2.1电子数显千分尺
    的螺距为
    4.2.2电子数显千分尺的月程直为25m或0mm
    4.23电子数显千分パア范国的为四的能信
    5要求
    C
    5.1外观
    5.1.1电子数显干分下不应有影中外和用性用、方、辆、毛等陷
    5.1.2电子数显千分而的、涂层不
    落和影响外观的色
    等缺陷。
    5.1.3电子数显装置
    显示屏应明
    天划痕气
    向的缺陷
    5.2材料
    5.2.1尺架应选择钢、月铁或其他性能类的材料制造
    5.2.2测微螺杆和测(Pい合金工斗、不他が能的材制造:测走面硬质合金
    或其他耐磨材料
    5.3尺架
    5.31尺架应具有足够的ンX尺来测螺杆轴人向作用10其形量不应大于表
    1的规定。
    5.3.2尺架上宜安装隔热装置
    5.4测螺杆和测砧
    5.4.1测微螺杆伸出尺架的光滑圆柱部的公称直径且选择6.5mm、mm或8.0m
    5.4.2电子数显干分尺在达到测量上限时,微螺杆伸出尺的で度不应小于3mm
    5.4.3测砧伸出尺架的长度不应小于3mm
    5.5相互作用
    5.5.1测微螺杆和螺母之间在全量程范围内应充分啮合,配合良好,不应出现卡滞和明显窜动
    5.5.2测微螺杆伸出尺架的光滑圆柱部分与轴套之间的配合应良好,不应出现明显摆动。
    5.6测力装置
    电子数显千分尺应具有测力装置,通过测力装置移动测微螺杆,并作用到测微螺杆测量面与球面
    接触的测量力应在5N10N之间,测量力变化不应大于2N
    5.7测量面
    5.7.1测量面应经过研磨,其边缘应倒钝,其平面度误差不应大于0.3m
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