HGT 3008-1999 片基表面电阻的测定.pdf
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- HGT 3008-1999 片基表面电阻的测定 3008 1999 表面电阻 测定
- 资源描述:
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ICS37.040.20;37.060.20;71.040.50
备案号:3735--1999
TG/3008-1999
前
本标淮由化工行业标准HG/T3008-1986《片基表面电阻测定方法》修订而成
本标准自实施之日起,同时代替IIG/T3008~1986。
本标准由原化学工业部技术监督司提出。
本标浦由化学工业部感光材料标准化技术归口单位归口。
本标准起草单位:中国乐凯胶片公司、无锡阿尔梅感光化学公司。
本标准起草人:李逢阳、汪荣华、谢庆尧。
本标准1986年9月首次发布为国家标准,1997年调整为推荐性化T行业标准,并重新进行了
编号
中华人民共和国化工行业标准
HG/T3008-1999
片基表面电阻的测定
Determination of the surface
代替HG/T3008-1986
resistance of fiilm base
1范围
本标准规定了成轴片基表面电阻的测定。
本标准适用于成轴片基和涂塑纸基表面电阻和表面电阻率的测定。单张片基和涂塑纸基的表面电
阻和表面电阻率可参照采用本标准来测定。
2定义
本标准采用下列定义
2.1表面电阻 surface resistance
在试样的某一表面上两电极间所加电压与经过一定时间后流过焫电极间的电流之商,该电流主要为流
过试样表层的电流,也包括一部分流过试样体积的电流成分。在两电极间可能形成的极化忽略不计。
2.2表面电阻率 Surface resistivity
试样表面层的直流电流强度与线电流密度之商,即单位面积的表面电阻
3方法原理
采用高阻计直接测量。测量表面电阻的原理见图1
直流电源E,2一电压表;3一試样表面电阻R;4一输入标准电阻Rs;5一直流放大器;6一检流计
图1髙阻计测试样表而电阻原理图
国家石油和化学工业局1999-06-16批准
2000-06-01实施
HG/T3008-1999
测定时,试样表面电阻R:与输人标准电阻Rs串联,并跨接于直流电源上。直流放大器将通过试样
的微弱电流放大后,由检流计检出,从而可计算出试样表面电阻(通常高阻计的检流计可直接读出被测
电阻值)。
4仪器、设备
4,1高阻计
主要技术条件应符合下列要求:
测量范围:不低于10-Q。
测量误差:測大于1090的电阻时,仪器误差不大于土20%;测10Q以下的电阻时,仪器误差不大
于士10%。
零点漂移:每小时不大于全标尺的4%
试样表面电阻应大于输人标准电阻的100倍
浏试电路应有良好屏蔽。
电源:应为直流稳压电源,试验电压误差应小于士5%
4.2平板电极
电极的材料为导电金属,与试样接触面光洁度不低于Vマ7。电极配置及尺寸要求如图2
クンル
1一测量电极;2一高压电极;3一试样4一保护电极
1mmd:≥2
推荐d1=50mms2=60mm;d3=d4=80mm
图2平板试样的电极配置示意图
5取橉与试样要求
成轴片基去掉包装后,弃去外层3~5圈,取20cm长的全幅宽片,约等间距取方形试样3~5张(试
样距片边至少15cm),按取样位置顺序编号。
试样应比电极最大尺寸每边多7mm以上
HG/T3008--1999
试样应平整、均匀、尢气泡、条道、机械杂质等可见缺陷。取样与测定过程中不要用手或其他东西触
及试样待测表
试样的调制和測定环境
成轴片基应在温度为(23士2)℃、相对湿度为(50士5)%、洁净的环境下放置至少24h。试样应在同
样环境下放置1h以上方可测定。
测定环境条件与试样调制条件相同。
7操作程序
按仪器使用说明书进行操作和计算结果。
安放试样和将电极放到试样上的操作应极为小心,以免形成杂散电流通道。
试验电压为10、100、250、500、1000V,一般选100V。充电时间为60s后,按规定读数
试验结果
8.1表面电阻
按仪器使用说明书读出或算出试样表面电阻。
单张和成轴片基的表面电阻均用带小数的个位数乘以10的n次摂(n为正整数)表示,取二位有效
数字,单位为欧姆()
成轴片基的表面电阻取各张试样表面电阻的几何平均值
8.2表面电阻率
表面电阻率按式(1)计算
Px=Rか/g
式中:2ー试样的表面电阻率,2;
R。一试样的表面电阻,32
か-一测量电极的有效周长,m;
g一門电极间的距离(见图2),m
高阻计所用圆形电极,有效周长(p)按式(2)计算
+g)………………ww……(2)
式中符号的意义见图2
方法的重复性
10次测定所得结果的相对标准偏差不大于10%。
10.试验报告
报告应包括以下内容
a)试样的名称、批号、轴号、涂层情况況、生产厂家、生产日期、取样地点和试样编号。
如同轴内各张试样电阻相差大于一个数量级,则应画出各张试样部位示意图
b)调制和试验的环境条件
c)测定仪器及测试电乐。
d)测得各试样及成轴片基的表面电阻或表面电阻率。
e)测定日期及人员
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