JJG 012-96 金相显微镜检定规程.pdf

MV RR CNJ0038金相显微镜检定规程
1.金相显微镜检定规稈的说明
JJG(教委)012-1996
名称
(中文)金相显微镜检定规程
(iX )Verification re ulation for metallo raphic microscope
归口单位
国家教育委员会
起恺单位
国家教育委员会
主要起草人
王甫培
批准日期
7年1月22日
实施日期
1997年4月1日
替代规程
适用范围
本规程适用于新安装、使用中或修理后的大中型金相显微镜的检
主要技术要求
外观要求
2.安装条件
3.检定坏境
4.检定设各
检定项目和检定方法
是否分级
无
检定周期(年)
附录数目
?版单位
科学技术文献出版社
检定用标准物质
相关技术文件
2.金相微镜检定规稈的摘要
范围
本规程适用于新安装、使用中或修理后的大中型金相显微镱的检
2.1原理
仪器是用于研究观察金属、陶瓷、矿石等有透明固体物质的组织结构。它是利用照明光
在样品上:的反向,经透镜的折射,把原来用眼尢法观察到的组织结构,经物镜和目镜炳个光
学放大系统放大后,获得清晰的图像。显微镜的放大倍数等于物镜和目镜放大倍数之积。可
成
M=△/Fob?D/Fok
式中M
放大倍数
△/Fob物镜放大倍数
DFok一日镜放大倍数
镜筒长度
物镜焦距
常数,250mm
Fok
日镜焦距
2.2构成
载物台、照明系统、显微镜放大系统、摄影系统。
3计量单位(米(m做米(m符合GB3102,6-9要求)
4计量要求
4.1计量特性
4.1.1物镜分辦率:高倍(40×以上)物镜,分辦0.30pm,物镜放人倍数精确度达士5%以
内
4.1.2总放大倍数:20×~2000×范围
4.1.3光源:卤素灯及氙灯
4.1.4功能:明视场、暗视场、偏振光、涉、微分涉树度、特殊附件、显微硬度、宏
观装置。
5技术要求
外观要求
仪器应有下列标志、名称、型号、制造厂名、出厂日期、位器号等项标志,并附有出厂
合格证和使用说明书。
5.2安装条件
5.2.1应将仪器安装在通风、避阳光干燥的房间内,仪器放置丁平稳防震动的工作台上.,
电源接插件应紧密配合,有良好接地线,接入仪器电源前应有稳压器。
5.2.2仪器主机、光源、滤色片、孔径光栅、粗细调节钮、摄影系统及附件均完好无损
物镜、目镜等附件应无霉斑。
5.3检定环境
5.3.1电源电压:单相(220±10)V,50H
5.3.2室内温度15℃~30℃
5.3.3环境相对湿度:≤70%
5.3.4仪器不受阻光直接照射,室内无腐蚀性气体,通风良好。
5.3.5显微镜平稳放置于工作台:,无振动。
5.4检定设备
5.4.1标准物镜测微尺0.O01mm分刻度板和目镜测微尺0.1mm分刻度板(或与目镜一体)。
5.5检定项目和检定方法
5.5.1外观检定按5.1进行。同时对物镜及光路上:附件检定基本上.无霉斑更不能影响观察及
摄像。
5.2.2光路检定:方法,将样品放置于载物台上:,打开光源并対中心,然后照明光进入光
路,调整孔径和视场光栏到合适程度,用粗细调节钮对样品聚焦能观察到清晰且光线均匀的
物像为止。
5.2.3载物台中心检定方法:把样品放置于载物台上,在目镜筒中看到物像,取其一特征
点移至观察中心,然后转动载物台(0°~180°转动)而其特征点仍在中心(原位)或略偏离中
心少许。
5.5.4物镜实际放大倍数检定方法:将0.01mm分刻度板放置在载物台上,又将待检的物镜
装(如10×)转到工作位置,把0.1mm分刻度日镜测微尺插入光路中,然后对0.01mn分刻度
板聚焦观簗0.Imm分刻度的格数与0.lmn分刻度多少格相重合,通过计算,得物镜实际放大
倍数
=月分刻度格数X-
物镜分刻度格数×0.01
5.5.5视场面积检定方法:在物镜和日镜配合下测定视场内的面积,用日镜测微尺分别测
出视场横向、纵向的直,然后取其算术平均值,得视场面积
S=r2/4
式中d为视声平均直径
面积愈大,观祭样品的范围愈大。
显微镜功能检定:逐一对明视场、暗视场、偏振光、干涉、微分干涉衬度等附件装
上,进行观察,均能达到其应有的效果。图像清晰,附有显微硬度附件检定其压痕值是査与
标准块相符确定其正确性。
5.5.7光源对中检定,按仪器刑号不同,方法有所区别,但原理是一致的,通过调整光源
位置(前后左右)使光源灯丝像落在视场范围的中心位置。
6计量管理
6.1检定结果处理
经检定后的仪器,发给检定证书。在检定结论中需明确说明被检定的仪器成属于何种级
別,是谷合格,存在的问题和建议等
6.2检定周期
6.2.1新安装和修理后的仪器应按本规程进行首次检定。
6.2.2仪器的检定周期为2年。
注:需要查阋全文,请与出版发行単位联系