YBT 4290-2012 金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)测定方法.pdf
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- YBT 4290-2012 金相检测面上最大晶粒尺寸级别ALA晶粒度测定方法 4290 2012 金相 检测 面上 最大 晶粒 尺寸 级别 ALA 测定 方法
- 资源描述:
-
ICS77.040.99
H24
Y
中华人民共和国黑色冶金行业标准
YB/T4290--2012
金相检测面上最大晶粒尺寸级别
(ALA晶粒度)测定方法
Test methods for estimating the largest grain
observed in a metallographic section (ALA grain size)
2012-11-07发布
2013-03-01实施
中华人民共和国工业和信息化部发布
YB/T4290-2012
前言
本标准使用翻译法等同采用 ASTM E930-99(2007《金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒
度)测定方法》
为了便于使用及符合我国习惯,本标准对 ASTM E930-99(2007)作了下列修改:
a)删除了 ASTM E930-99(2007)的前言,增加了本标准前言;
b)删除了 ASTM E930-99(2007)中1.3关于安全的陈述
c)对 ASTM E93099(2007)的“规范性引用文件”按我国规定进行了改写,用相关国家标准代替
了部分原 ASTM标准(见第2章);
在6.1中增加了标题“总则”;
e)删除了 ASTM E930-99(2007)的“关键词”部分;
f)将附录按GB/T1.1规定改编为附录A和附录B。
本标准对 ASTM E930-99(2007)有误或缺漏之处进行了更正或增补,主要如下:
a)更正了表1第4行面积数值,将原“0.703”改为“0.73(
b)在6.4.5中增加了“(如根据6.4.1规定测定多个截面面积,则应选用其最大面积)”的说明;
更正了 ASTM F93099(2007)附录A.2中放大倍率为500X时所对应的晶粒度级别,即A、B、
C、D及E系列图相应的级别数值降低半级,分别修改为5.5、6.0、6.5、7.0与7.5级
本标准由中国钢铁工业协会提出。
本标准由全国钢标准化技术委员会(SAC/TC183)归口
本标准起草单位:宝山钢铁股份有限公司、冶金工业信息标准研究院、东北特殊钢集团有限责任公
本标准主要起草人:刘卫斌、栾燕、曾文涛、苏建红、俞信霞。
本标准为首次发布。
YB/T4290-2012
材料标准有时会在晶粒度检验项目中要求识别试样中观测到的最大晶粒,通常表示为ALA晶粒度
本标雅适用于大晶粒数国太少而无法用GB/T6394--2002标准测量的情形。应注意可能会在试样其他
局部位置存在未观测到的更大晶粒。
YB/T4290-2012
金相检测面上最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)测定方法
范
本标准规定了在金相检测面上测定所观察到的最大晶粒尺寸级别(ALA晶粒度)的试验方法。
本标准仅进用于包含异常粗大晶粒的显微组织,这种粗大晶粒因分布太稀疏而无法用GB/T6394
2002标准测量其晶粒度。
2规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件
GB/T6394-2002金属平均晶粒度测定方法( ASTM E112~-1996,MOD
GB/T13298金属显微组织检验方法
GB/T24177双重晶粒度表征与测定方法(GB/T24177~2009, ASTM E1181-2002,IDT)
GB/T30067金相学术语
3术语
GB/T30067中确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
ALA晶粒ALA( as large as)gain
在随机分散分布的孤立粗大晶粒中观测到的最大晶粒。这些粗大晶粒所占面积分数不大于试样检
测面面积的5%。试样检测面上这些粗大晶粒与基体晶粒的晶粒度级差不小于3级
3.2
异常晶粒 outlier grain
尺寸与占优势晶粒的晶粒度明显不同的晶粒,如ALA晶粒.
4盒义与用途
4.1大晶粒的存在关系到材料的异常力学行为,如裂纹的萌生、扩展及疲劳。因而技术上有必要报告
ALA晶粒度。
4.2本标准适用条件为:组织中存在异常粗大晶粒,其晶粒度级别与基体的晶粒度级差不小于3级,且
所占面积不大于试样检测面面积的5%。附录A中图A.1给出了典型照片实例
4.3本标准不能用于测定平均晶粒度,平均晶粒度测定应按GB/T6394-2002进行。附录A中图
A.2、图A.3和图A.4给出了不适用于ALA方式处理的显微组织实例
4.4本标准中的方法可按GB/T24177标准的规定用于表征双重晶粒度。
5取样
5.1取样方法按GB/T6394-2002标准规定进行。
5.2预检测面一般应是通过产品厚度中心的平面,并能显示晶粒最大长宽比。
5.3在特定产品或使用中,可采用其他更有效或更有预见性的检测面
5.4检测报告中应明确说明检测面的位置和取样方向
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