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类型激励器测试报告.doc

  • 上传人:anjianke
  • 文档编号:75005256
  • 上传时间:2019-05-14
  • 格式:DOC
  • 页数:10
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    关 键  词:
    激励 测试报告
    资源描述:
    测试报告
    一、激励信号
    1.载频频率
    技术指标:5~25MHz/1KHz步进
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,并设置载频频率步进1kHz,用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出频率。
    在5MHz到25MHz范围抽测4个频点。
    载频频率测试记录
    设定频率
    (MHz)
    测试频率
    (MHz)
    步进频率
    (KHz)
    测试频率
    (MHz)
    备注
    5.283
    5.283
    1
    5.284
    10.256
    10.256
    1
    10.257
    15.512
    15.512
    1
    15.513
    24.828
    24.828
    1
    24.829
    2.调频频偏
    技术指标:20/30/50(KHz )
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率和调频频偏。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,每个频率设定两个调频频偏,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。
    调频频偏测试记录
    载频频率
    (MHz)
    设定频偏
    (KHz)
    测试频偏
    (KHz)
    设定频偏
    (KHz)
    测试频偏
    (KHz)
    5.25
    20
    19.6
    30
    29.4
    10.45
    30
    29.5
    50
    48.9
    14.85
    50
    49.7
    20
    19.6
    3.调频周期
    技术指标:12/24/240 (ms)
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,调频周期。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励信号输出。设频谱仪中心频率为载频频率,SPAN=500Hz,RBW=1Hz,分别读出两根相邻谱线的频率,调频周期为两根相邻谱线频率差的倒数。
    调频周期测试记录
    载频频率
    (MHz)
    设定周期
    (ms)
    测试周期
    (ms)
    设定周期
    (ms)
    测试周期
    (ms)
    5.15
    20
    20
    30
    30
    10.25
    30
    30
    50
    50
    14.45
    50
    50
    20
    20
    4. 调制脉冲周期
    技术指标:1.0/1.2/1.5/2.0/2.4(ms)
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,调制脉冲周期,调频周期。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。
    调制脉冲周期测试记录
    载频频率
    (MHz)
    设定周期
    (ms)
    测试周期
    (ms)
    设定周期
    (ms)
    测试周期
    (ms)
    5.45
    1.0
    1.0
    2.0
    2.0
    10.85
    1.2
    1.2
    2.4
    2.4
    14.25
    1.5
    1.5
    1.0
    1.0
    5. 调制脉冲宽度
    技术指标:0.1~0.5(ms)
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,调制脉冲周期,调制脉冲宽度。在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP54600B型示波器测试监控组合X13输出的发射开关信号。
    调制脉冲宽度测试记录
    载频频率
    (MHz)
    设定宽度
    (ms)
    测试宽度
    (ms)
    设定宽度
    (ms)
    测试宽度
    (ms)
    5.45
    0.1
    0.1
    0.4
    0.4
    10.85
    0.2
    0.2
    0.5
    0.5
    14.25
    0.3
    0.3
    0.1
    0.1
    6. 输出功率:
    技术指标:≥20dBm/(7dB可调,1dB步进)
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,并分别设定输出衰减(1~7)dB;使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。
    输出功率测试记录
    载频频率
    (MHz)
    输出功率
    (dB)
    设定衰减
    (dB)
    测试值
    (dB)
    备注
    5.15
    20.24
    1
    19.24
    10.85
    20.06
    3
    17.06
    14.45
    18.81
    7
    11.81
    9. 相位噪声
    技术指标:L(1Hz)<-75dBc/Hz
    测试方法:使用PN9000相位噪声测试系统,任选低、中、高三个频率点,用HP8662信号发生器作参考源,测试富氏频偏为1Hz至1MHz的相位噪声。
    10.下边带抑制
    技术指标:≥65dB
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱。
    下边带抑制测试记录
    载频频率
    (MHz)
    载频功率(dBm)
    边带功率(dBm)
    边带抑制
    (dB)
    备注
    5.45
    20.24
    -56.2
    76.44
    10.85
    20.06
    -57.1
    77.16
    14.25
    18.81
    -60.41
    78.82
    11.杂散抑制
    技术指标:80dB(以内)
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱的功率。设Span=4MHz, RBW=1KHz
    杂散抑制测试记录
    载频频率
    (MHz)
    载频功率(dBm)
    杂散功率(dBm)
    杂散抑制
    (dB)
    备注
    5.45
    19.9
    -58.6
    -78.5
    10.85
    19.2
    -59.0
    -78.2
    14.25
    18.7
    -60.2
    -78.9
    12.谐波抑制
    技术指标:≥30dB
    测试方法:在计算机的控制面板上设定载频频率,在5MHz到15MHz范围内抽测3个频率,使用HP8560E型频谱分析仪测试发射激励输出信号的频谱的功率。设Span=40MHz, RBW=1KHz
    谐波抑制测试记录
    载频频率
    (MHz)
    载频功率(dBm)
    谐波功率(dBm)
    谐波抑制
    (dB)
    备注
    5.45
    19.7
    -6.8
    26.5
    10.85
    19.9
    -8.3
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