GB 13541-1992 电气用塑料薄膜试验方法.pdf

(www.freeb.ner中华人民共和国国家标准电气用塑料薄膜GB/P13541-92试验方法Test methods of plasticfilms for electrical purposes本标准参照采用国际标准IEC674-2(1988)电气用塑料薄膜规范第二部分试验方法。1主题内容与适用范本标准规定了电气用塑料薄膜的试验方法。本标准适用于电气用塑料薄膜2引用准GB1033塑料密度和相对密度试验方法GB1408固体绝缘材枓工电气强度的试验方法GB1409固体绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波长在内)下相对介电常数和介质损耗因数的试验方法GB1410固体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率试验方法GB7196用液体萃取测定电气绝缘材料离子杂质的试验方法GB1000塑料薄膜和薄片摩擦系数测定方法GB10582测定因绝缘材料而引起的电解腐蚀的试验方法GB11026.1确定电气绝缘材料耐热性的导则制订老化试验方法和评价试验结果的总规程GB11999塑料薄膜和薄片耐撕裂性试验方法埃莱门多夫法JB3282固体绝缘材料相对耐表面放电击穿性能试验方法3取样、预处理条件和试验亲件3.1取样从薄膜卷上取样时,应至少先去掉其最外三层薄膜,然后,再按性能的要求取样及制样。取样时的环境条件同试验条件。2预处理条件除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,作为样品的薄膜卷应在温度23土2、相对湿度50%士5%下至少放置24h,取好的试样应在该条件下处理1h3.3试验条件除非产品标准或本标准中个别试验另有规定外,试验应在温度23士2、相对湿度50%士5%、环境洁净度不大于3000级的条件下进行。国家技不监督局1992-07-03批港1992-03-01实施免费标准下载?(ww.feeb.ne)无需注即可下载(www.freeb.nerGB/T13541-92度薄膜厚度的测量应由产品标准规定选择下述中任一方法进行。4.1机械法4.1.1单层法4.1.1.1试验仪器薄膜厚度小于100pm时,用立式光学计或其他合适的测厚仪测量。采用直径为2m的平面测帽或曲率半径为25mm50mm的球面测帽。测量压为0.51N。薄膜厚度大于或等于100m时,可用杠杆千分尺测量。仪器精度:膜厚度小于15pm时,精度不低于0.2m膜厚度等于及大于但小于100gm时,精度不低于膜厚度大于及等于100pm时,精度不低于2m4.1.1.2试验步骤沿薄膜卷横向取三条100mm宽的薄膜作为试样(当薄膜卷宽度小于400mm时,可适当多取几条试样)。在试样上近似均匀地共测量27点厚度。两个测量点之间的距离不少于50mm。对于未切边的试样,测量点应离薄膜边缘50mm。对已切边的试样,测量点应离薄膜边缘2mm。对于薄膜带,应在带宽的中间位置每隔50mm测量一点,共测量27点。4.1.1.3结果取27个测量值的中值作为试验结果,并报告最大值和最小值。4.1.2层法4.1.2.1试验仪器杠杆千分尺精度1gm,采用直径6mm的平面测帽。4.1.2.2试验步沿薄膜卷纵向取600800mm长(宽为薄煐宽度)的薄膜,顺纵向缠于宽度为50mm、厚度为3mm的标准片上,共缠五层(标准片的每面五层)。取出标准片,用千分尺沿薄膜横向均匀间隔地测量10层薄膜厚度。测量点数按表1规定。表1尊膜宽度505070170100100150150200200350350上点致304.1.2.3试验结果各点测量值除以10,得各点的单张薄膜厚度,取各点的单张薄膜厚度的中值作为试验结果,并报告单张厚度的最大值和最小值。4.2质量密度法4.2.1试验器具分析天乎感量0.1mg钢板尺分度值0.5mm4-2.2试验步骤在薄膜卷上取三片长方形试样,每片质量约300mg。用钢板尺测量试样面积,用分析天平测量试样的质量。按本标准第5章规定测量试样的密度。4.2.3试验结果免费标准下载?(ww.feeb.ne)无需注即可下载(www.freeb.nercB/T13541-92每个测量值的结果按式(1)计算(1式中:h一试样的厚度,m试样的质量,g;S一一试样的面积,cm2d一试样的实测密度,g/lem2。取三个计算值的中值作为测量结果,结果取三位有效数字。密度按GB1033进行。具体选择何种试验方法,由产品标准规定。宽度6.1试验仪器钢板尺分度值1mm,长度大于薄膜宽度。6.2试验步骤沿薄膜纨向取5m试样于松弛状态下放置1h后,沿纵向等距测量薄膜宽度五次。6.3试验结果取五次测量值的中值作为薄膜的宽度。7卷绕性7.1定义与原理薄膜的卷绕性用于评定成卷蒋膜的变形情况,可由偏斜和下垂两方面来衡量。偏斜:当蒋膜平整地展开时,其边缘不呈直线(偏移或弧形下垂:当一段薄膜由两个呈水平位置的平行辊支撑并在承受一定张力的情况下,其中有部分薄膜会低于总的水平面。对于宽度小于150mm的薄膜或很厚的薄膜测定其卷绕性时,用7.2条方法1分别测定其偏斜和下垂.对于宽度大于等于150mm的薄膜测定其卷绕性时,用7.3条方法2一次测定偏斜和下垂的总和。7.2方法17.2.1偏斜的测量7.2.1.1方法要点将一段薄膜自然地平铺在一平面上,测量其边缘与直线的偏离值,如图1所示。免费标准下载?(ww.feeb.ne)无需注即可下载