YS 347-2004铜及铜合金平均晶粒度测定方法.pdf

ICS77,040.99
H24
中华人民共和国有色金属行业标准
YS/T347--2004
代替YS/T347--1994
铜及銅合金平均晶粒度测定方法
Copper and copper alloys-estimation of average grain size
2004-06-17发布
2004-11-01实施
国家发展和改革委员会发布
YS/T347-2004
前言
本标准是对YS/T347-1994《单相制合金品粒度测定法的修订。
本标准非等效采用了国际标准ISO2624:1990和美国标准 ASTM E112:1996。
与前版相比,主要有以下修订
对标准名称进行了修改。
增加了晶粒度“级”的表述方法,以便和其他材料的晶粒度表述取得一致性。
ー一用“公称直径”作为晶粒平均直径的值,与国际标准统一。
比较法中増加了部分品粒度级别的图片,使分级更细
本标准代替YS/T347-1994。
本标准的附录A为规范性附录
本标准由全国有色金属标淮化技术委员会提出并归口
本标准由洛阳锕加工集团冇限责任公司负责起草。
本标准主要起草人:张智强、福伟、路俊禁、梅恒星、张敬华、王庭芳。
本标准由全国有色金属标准化技术委员会负责解释。
本标雅所代替标准的历次版本发布情况为
YB797--1971;
YS/T347--1994
YS/T347~-2004
铜及铜合金平均晶粒度测定方法
1范围
本标准规定了用比较法、面积法和截距法测定铜及铜合金晶粒度的具体方法。通常测量可以用比
较法。当有异议时,以截距法为仲裁方法
本标准适用于测定单相或以单相为主的铜及铜合金退火状态的晶粒度。
2引用标准
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有
的修改单〔不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本近用于本标准。
YS/T449铜及铜合金铸造和加工制品显徽组织检验方法
3定义及符号
晶粒度 grain size
是基体品粒大小的量度。铜及铜合金晶粒度通常采用公称直径(4n)”来表示“品粒平均直径”
晶粒级别指数 G grain degree class index number
在100倍放大倍率下,645.16mm2面积所包含的晶品粒数m与G有如下关系,见式(1):
(1)
注:G值可在表3中査出。
字母符号
本标准采用的字母符号汇总见表
表
符号
名称及说明
单位
品粒级别指数
测量面积为645.16mm2时所包含的晶数
浏量面积为500时所包合的品粒数
测量内晶粒数
被圆切割的晶粒数
单位面积内的晶粒数
所有测量线段的总长度
放大倍率
所有测量线段上的总截点数
晶粒平均截距
乎均直径
弗望特直径
平均晶粒截面面积
tem2
YS/T347-2004
4试样
4.1试样应直接从交货状态的产品上截取。取样部位和取样数量应按相关产品标准的有关规定进行。
4.2试样取样尺寸推荐如下
板带材:取15mm×15mm正方形样;
管棒材:沿轴向取10mm~15mm长圆环样或圆片样。
4.3试样制备方法按照YS/T419规定进行
5晶粒度测定方法
5.1比较法
5.1.1比较法是通过被测试样的图像与标准图对比来测定试样晶粒度。
5.1.2比较法测量方法:试样制好后,在放大100倍的倍率下,通过金相显微镜投影图像或拍出有代表
性视场的显微照片,与相应的标准评级图片附录A直接比较,选出与試样图像最接近的标准图片,作为
试样的晶粒度,报出晶粒度值。通常应选择三个以上视场进行比较
5.1.3不具备投影或照像功能的显微镜,可以直接通过目镜观察,对照标准评级图,找出最接近的标准
图片,报出试样晶粒度
5.1.4当试样晶粒度超过标准评级图片所包括的范田时,可采用成像放大倍率M。在此放大倍率下
的品粒图像与标准放大倍率(100×)的标准评级图片进行比较,找出最接近的图片后,按表2查对,报出
实际品粒度。
表2在各种放大倍率下观测的试样真实晶粒度与标准图之问的对应关系
成像啟大倍率
成像和标准图相比时的品粒度/mn
10×〔标准)0.080.01C」9.0150.020
0.025
0.030
0.0.35
0,040
0,045
0,060
0,100
0.120
c.]40
50X
0.015
0.020
0.060
c.07010.080
090
75X
0.010
0.015
0.C20
0.0300.
005.c0710.00c.0120.015.017
500
0.005
0.006
0.007
0.0C8
0.009
成像放大倍
成像和标准图相比时的品粒度/mm
100×(标准)」0.050
0.C55
0.065
0.0750.090
0,110
0.130
0.150
0,180
25
0.220
0,260
0,3
0.40
20
000.720
0.1500.1800.22010.2
0.300
0,120
0.20
2000.0250.010.0350.040!0650.6950.0650.0750.03
500X
0,0L0
0.012
0.015
0,018
0,0
0.030
0.03
5.2面积法
5.2.1面积法是通过统计给定面积内的晶粒数来测定试样晶粒度
5.2.2面积法测量方法:在显微镜毛玻璃上或照片上划一个直径79.8mm的测量圆,面积近似为
5000mm2,选择适当放大倍率M,使该圆内至少包含有50个晶粒。计算测量圆覆盖的晶粒数n2,见式
2)、(3)
当n2为偶数时
当m2为奇数时
7=n+(n2+1),/2
(3