SJ 20524-1995 材料屏蔽效能的测量方法.pdf

中华人民共和国电子行业军用标准
FU5971
S20524-1995
材料屏蔽效能的测量方法
Measuring methods for shielding effectiveness of materials
1995-05-25发布
1995-12-01实施
中华人民共和国电子工业部批准
中华人民共和国电子行业军用标准
材料屏蔽效能的测试方法
SJ20524~-1995
Measuring anethoids for shielding effectiveness of materials
主题內容
本标准规定了非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、?电介质板等平板
型电磁屏蔽材料对于平面波屏蔽效能的测量方法
1.2适用范围
本标准适用于金属薄板、非导电材料表面涂或镀层、金属网、导电薄膜、导电玻璃、导电介
质板等平板型电磁屏蔽材料对于平面波的屏蔽效能的测量。
2引用文件
GB6113-85电磁干扰测量仪
GJB72-85电磁千扰和电磁兼容性名词术语
GIB/Z25-90电子设备和设施的接地、搭接和屏蔽设计指南
定义
除本标规定的术语外,其他术语符合GJB72。
3.1屏蔽效能(SE) shielding effectiveness
在同一激励电平下,有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比,并以对数表
示。即
SE =201
SE= 10]g
式中:SEー一脬憲涼能,IB;
无胛蔽材时的猡呶压
有屏蔽材料时的接收电压
无屏蔽材料时的接收功率;
有屏蔽材料时的接收功率。
一設要求
anmr
中华人民共和国电子工业部1995-05-25发布
1995-12-01实施
SJ20524-1995
1测量条件
环境温度:23±2℃
b.环境相对湿度:45%~75%;
大气压力:86~106kPa
d。试样翅试前应在上述环境中保持48h;
e,环境电磁噪声对测量结果不应产生影响
4.2测试设备
4.2.1信号源
頫率范围:1MHz~1.5GHz;
最大输出功率:≥+13dBm;
输出抗:50Q;
电压驻波比:<2.0。
4.2.2电磁千扰测量仪
工作频率范围与信号源相一致;测量误差应满足GB6113的要求
4.2.3法兰同轴测试装置,如图1所示;
频率范围:5 KFZ~1.SGHz
特性阻抗:50;
电压驻波比:<1.2;
传输损耗:<1dB
测量动态范围:>100iB。
.同轴连接器
5.导轨
2.锥形同轴线支架
6.底座
3.连接器紧囧螺毋
4.锥形同轴线腔体
图1法兰同轴测试装置
4.2.4跟踪信号源/频谱分析佟
率范围:IMHz~1.5GHz;
跟踪信号源最大输出功率:≥+13dBr;
S20524-1995
跟踪信号源电压驻波比:<2.0;
频谱分析仪最小分辦率带宽:1kHz;
频谱仪灵敏度:满足GB6113的要求;
特性阻抗:50.Ω。
4.2.5网络分析仪
频率范围:1MHz~1.5GHz;
时基稳定度:±3ppm/a;
頫率分辦窣:1H2
特性强抗:50Q
电压驻波比:<2.0。
2.6衰减器
频率范固:30MIHz~1.5GHz
恃性阻抗:502;
10dB固定衰减器(额定功率满足测试要求)
波比:<1.2。
4.2.7电缆及连接器
特性阻抗:502
连接器:N型
5详细要求
本标准规定的方法中,所用测量设备的核心部分是4,2.3条叙述的法兰同轴测试装置。
该同轴装置内的电场与磁场相互正交,且垂直于电磁波的传播方向,相当于空间的平面电磁
波,因此测量结果是试样对垂直入射平面波的屏蔽效能,(见图2);对材料近区磁场的测量方
法,参见附录A(参考件)。
电场
张场
图2法兰同轴测试装置内部场分布
5.1测量要求
a.负载试样最大厚度t≤5mm,试样外径15-8smm,开孔试样孔径12+8-5mm,被测
的材料,应按以下规格制作成试样(见图3);
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12。mm
0115. mm
115omm85。mm
115。。mm
ク85omrn
a1负载试样
a2负载试样
a3参考试样
a1:可用于5kHz~1.5GHz屏蔽效能测试的负载试样,但对于5kHz~30MHz与ASTM双屏蔽盒法的可
比性有待进一步研究
a2:用于30MHz~1.5GHz屏蔽效能测试的负载试样
a3:用于30MHz~1.5GHz校准的参考试
图3试样形状尺寸示意图
b.试样在受试之前应在温度23±2℃,相对湿度(58±5)%的条件下存放48h,试验时取
出并立即进行试验;
c,双面均有导电材料的负载试样,应对试样的外缘及贯通孔内壁作导电处理,使两面连
通。制成的负载试样和参考试样应是同种材料,并且厚度相同。它们的不平度不应大于其本
身厚度的2%
在法兰同轴测试装置中夹放试样时,应将导电面朝向信号源端,并夹紧试样,使试样
与法兰同轴测试装置紧密的接触,避免因接触不良而引起的测量误差。对屏蔽效能高的试样
及玻璃等脆性导电试样,在同轴法兰的法兰面上必须加导电树垫
e,若测量若千片厚度相同的同一类负载试样时,应使负载试样与法兰同轴测试装置紧
密的接触,记下紧固螺母侧面刻度指示的方位值,以后各片负载试样均以此读数为准,这样就
保证了每片负载试样的压紧力相同,提高测量的可重复性,避免因压力不同而引起的测量误
差
f.本标准所采用的测量设备,必须有足够的动态范围,即测量设备的动态范围应大于法
兰轴测试装置的动态范围
g,在对负载试样进行测量之前,应对装有参考试样的情况进行测量;并记录测量数据作
为直通状态数椐;
h,如果有标准试样,应用标准试样对法兰同轴测试装置进行校准。它可以确定整个系
统是否工作在正常状态。标准试样为单面镀金的聚酯薄膜,表面电阻为単位面积5±29。屏
蔽效能为32±3dB;
由于背景噪声会影响接收机的灵敏度,所以测量屏蔽效能在60dB以上的屏蔽材料时
应使用双层屏蔽或半钢性电缆;
j.在进行此项测量之前,测试人员应进行专门的训练并积累经验,以保证测量结果的准
确性和可重复性;
k,测量系统应有良好的接地;
1.在进行测量时应至少在30MHz、50MH2、100MHz、30MHz、500MHIz、1GHz等频率点