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类型JIS H7307-2005 超导性.第7部分电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻.pdf

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  • 文档编号:46430220
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    关 键  词:
    JIS H7307-2005 超导性.第7部分电特性测量.微波频率下超导体的表面电阻 H7307 2005 超导 部分 特性 测量 微波 频率 超导体 表面电阻
    资源描述:
    H7307:2005(EC61788-7:2002)
    まえがき
    この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定こ基づき,財団法人国際超電導産業技術研究センタ
    ( ISTEC)/財団法人日本規格協会(JSA)から,エ業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出が
    あり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
    制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
    本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC61788-7:2002, Superconductivityー
    Part T: Electoronic characteristic measurements-surface resistance of superconductors at microwave frequencies
    基礎として用いた。
    この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出公開後の特許出顔,実用新案権,又は出公開後の
    実用新案登録出顒に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
    は,このような技術的性質をもつ特許権,出公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
    案登録出願にかかわる確認について,貴任はもたない
    JISH7307には,次に示す附属書がある。
    附属(参考)本体の箇条1.から箇条8.までの追加参考情報
    (1)
    H7307:2005(EC61788-7:2002)
    目次
    序文…
    1.適用範囲“
    中中由中由自由曲由曾中由由由由自自由曲由中由曲由自●由由
    2.引用規格…
    ●中中●●
    3.定義…m
    3.1導体の表面インピーダンス7、…
    4.要求事項
    5.原理
    6.装…
    6.1測定装
    6.2R3測定器具…
    63誘電体円柱
    Hdp
    7.測定方法…
    7,1試料の準備
    7.2成…
    73基準レペルの測定……
    7.42枚の金属導体で短絡されたTFanモード共振器による標準サファイアの測定……7
    7.52枚の超電導膜で短絡された標準サファイアの測定?
    em.sensansmansmsesssaes.Mses..8
    7.6超電導体の表面抵抗の決定……
    10
    8.精度及び正確度
    10
    8,1表面抵抗…
    量10
    8.2温度
    2
    8.3試料及びホルダーとの支持構造?……
    8.4試料保
    9.試験報告…“…
    9.1試験試料の確定
    12
    9.2R,値の報告……
    9.3試験条件の報告……
    附属(参考)本体の箇条1.から箇条8.までの追加考情報…
    ww.bfw.com免费下载
    日本工業規格
    JIS
    H7307:2005
    (IEC6178-7:2002)
    超電導ーエレクトロニクス特性試験方法
    超電導体のマイク口波表面抵抗
    Superconductivity -Part 7: Electoronic characteristic measurements
    Surface resistance of superconductors at microwave frequencies
    序文この規格は,2002年に第1版として発行されたIBEC617887, Superconductivity-Part7: Electronic
    characteristic measurements- Surface resistance of superconductors at microwave frequenciesを翻訳し,技術的内
    容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。
    なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。
    この規格に記述した試験方法は,低温超電導体を含めた他のバルク超電導体にも適用できる。
    この規格に規定する武験方法は, VAMAS( Versailles Project on Advanced Materials and Standards)の超電導
    体薄膜特性標準化準備研究の成果に基づいている。
    適用範囲この規格は,標準二共振器法を用いたマイクロ波帯における超電導体表面抵抗試験方法に
    ついて規定する。共振周波数における表面抵抗R、の温度依存性を測定対象とする。
    適用する表面抵抗の測定範囲は,次による
    周波数(の8GIL測定分解能10GHzにおいて0.01mQ
    測定した周波数における表面抵抗値及び比較のためのf2法則(f<30GHのを用いて10GHazに換算した
    表面抵抗値を報告しなければならない。
    備考この規格の対応国際規格を,次に示す。
    なお,対応の程度を表す記号は, ISO/EC Guide21に基づき,DT(一致している),MOD
    (修正している),NEQ(同等でない)とする。
    IEC 61788-7: 2002, uperconductivity -Part Electoronic characteristic measurements-surface
    resistance of superconductors at microwave frequencies (DT)
    2.引用規格次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
    る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する
    JISH7005超電導関連用語
    MA IEC 60050-815: 2000 International Electrotechnical Vocabulary(V-part 815: Superconductivity
    この規格と一致している。
    3,定義この規格で用いる主な用語の定義は,JISH7005によるほか,次による
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