真空断路器测试系统的设计.pdf
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- 真空 断路器 测试 系统 设计
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真空断路器测试系统的设计殷庆纵,等
真空断路器测试系统的设计
Design of the Test System for Vacuum Circuit Breakers
(苏州工业职业技术学院电子エ程系,江苏苏州215104;苏州エ业职业技术学院杌电工程系2,江苏苏州215104
摘要:真空断路器的性能对输配电线路的安全运行起着重要作用,而真空断路器的性能由它的主要技术参数决定。采用ARM
LPC2132实现的真空断路器测试系统能对真空断路器的主要技术指标进行测试,测结果通过计算机进行显示。该测试系统可用于
真空断路器调试生产线,并根据测量结果对真空断路器的工作状态进行调整,从而提高真空断路器的性能。
关键词:真空断路器ILPC2132硬件设计AD转换串行通信检测
中图分类号:T"P368
文献标志码:A
Abstract: The performance of the vacuum circuit breakers plays big role in safety operation of the power transmission and distribution lines
thile the major technical parameters of the breaker are decisive factors of the performance. The test system implemented by adopting ARM
PC2132 is able to test these major parameters, and the test results are displayed through computer. The test system can be used in checkout
stage of the production line, and the operational states of the breaker can be adjusted in accordance wth the measurement results, thus the per
formance of the vacuum breakers is improved
Keywords: Vacuum cireuit breaker PC2132 Hardware design A/D conversion Serial communication Measureme
0引言
真空断路器是髙乐输配电线路中最为重要的电气
静触头
设备,它的性能直接关系到线路运行的安全性和可靠
动敏头
性。为了提高真空断路器的性能,在生产过程中需要
L
对真空断路器三相触头的行程、开距、超程、分间时间
分阐位置
刚合位置
合闸位置
和合闻时间等主要技术参数进行测试与调整,以提高
可靠性、减少电磨损并延长使用寿命山。文章介绍的
」真空断路器触头动作示意图
真空断路器测试系统可用于真空淅路器的牛产线,为
Fig. 1 Schematic of contaet action of vacuum circuit breaker
调整真空断路器的工作状态提供主要技术参数。
图1中:L为行程,即分闻位置与合闻位置之间的
真空断路器测试系统主要技术要求有:①同时测量距离:1为开距,即分阐位置与刚合位置之间的距离;の2
U、V、三相动静触头的行程、开距、超程,测量误差≤为超程(接触行程),即刚合位置与合闻位置之间的距
0.5%;②测量(、V、三相动静触头分闸时间、合闸时离。
间,测量误差≤0.5%;(③测量结果由PC机显示。
系统以IPC2132为核心,具有扩展采样/保持电
系统硬件设计
路、RS-232接口、键盘等外围设备。LPC2132是一个
支持实时仿真和跟踪的32位ARM7TDMI-S核的微控
由于真空断路器触头密封在瓷売的屏蔽筒内,不制器,并带有1个10位8路んD转换器、2个32位定
便于直接测量;分闸时间与合间时间在20~60m之时器/计数器、6路PWM单元输出、2个硬件『C接口
回;并且三相动触头同时动作,因此,需要分别记录三和47个GP0、2个16C59T业标准UARr,以及多达
相动触头动作的各个位置,达到正确测量的目的)。9个边沿或电平触发的外部中断。16kB的片内静态
真空断路器触头动作示意图如图1所示。
RAM和64kB的片内ash程序存储器避免了
LPC2132外扩存储器,简化了电路,并提高了运行速
修改稿收到日期:2010-01-20
第一作者殷庆纵,男,1956年生,1982年毕业于南京工学院电气技术专
度
业,获学士学位,副教投;主要从亭入式系统、智能仪器和电子测量的研究。
真空断路器测试系统构成框图如图2所示。
PROCESS AUTOMATION INSTRUMENTATION Vol 31 No6 June 2010
万方数据
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