GBT 15174-2017 可靠性增长大纲.pdf
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- 关 键 词:
- GBT 15174-2017 可靠性增长大纲 15174 2017 可靠性 增长 大纲
- 资源描述:
-
ICS03.120.10:03.120.30
中人民共和国国家标祖准
GB/T15174ー2017/IFC61014:2003
代替GB/T15174-1994
可靠性増长大纲
Programmes for reliability growth
(IEC61014:2003,IDT)
2017-11-01发布
2018-05-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
GB/T15174-2017/IEC61014:2003
目次
前言
范围
2规范性引用文件
3术语和定义……
基本概念
4.1概述…………
潓弱环节和失效的根源
4.3产品研制过程的可靠性增长基本概念;综合可靠性工程概念………
4,4试验阶段产品可靠性增长基本概念……
4.5设计阶段可靠性增长计划和达到的可靠性的估计…
管理
5.1概述
2设计阶段的程序和过程
5.3沟通协调机制…
5.4设计阶段的人力及费用…
5.5费用效益…………………………………15
可靠性増长大纲的计划和执行
6.1综合可靠性增长概念和综述…
?
………………………………15
6.2设计阶段的可靠性増长活动…………
6.3确认试验阶段的可靠性増长活动?
6.4可靠性增长试验的考虑…
现场可靠性增长……………………28
参考文献
ww.
ww.
GB/T151742017/IEC61014:2003
前言
本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T15174-1994《可靠性增长大纲》。与GB/T15174-1994相比,主要技术变化如下:
増加了部分术语和定义(见第3章);
增加了产品研制阶段、试验阶段、设计阶段可靠性増长基本概念部分的内容(见第4章);
增加了设计阶段的程序和过程、人力及费用部分的内容(见第5章);
増加了综合可靠性増长概念和综述、设计阶段的可靠性增长活动、确认试验阶段的可靠性増长
活动章的内容,并将1994年版的第7、8、9、10章的内容放到第6章,作了更加详细的说明(见
第6章);
将1994年版第7章部分内容放到第6章,增加了现场可靠性増长部分的内容(见第6章);
一刑除了附录A(见1994年版的附录A)
本标准使用翻译法等同采用IEC61014:2003《可靠性增长大纲》
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下
GB/T5080.2-2012可靠性试验第2部分:试验周期设计(IEC60605-2:1994,IDT);
GB/T692.1-1995可信性管理第1部分:可信性大纲管理(IEC60300-1:1993,IDT)
GB/T7288(所有部分)设备可靠性试验推荐的试验条件[IEC60605-3(所有部分)]
GB/T7826-2012系统可靠性分析技术失效模式和效应分析(FMEA)程序(IEC60812:
2006.1D)T)
GB/T7828-1987设计评审(IEC6160:2005,NEQ);
GB/T7829-1987故障树分析程序(IEC61025:2006,NEQ)。
本标准与IEC61014:2003相比,做了下列编辑性修改:
6.4.3最后一段引用的威布尔分析标准IEC60605-4,存在引用错误,在本标准中修改为威布尔
分析标准IEC61649,同时,在本标准规范性引用文件中增加威布尔分析标准IEC61649
在图8中,在所有条件判断框后面増加了“是”与”否”的判断回答:
在图10中,参照GB/T15174-1994,在图标题前增加了图注
本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出
本标准由全国电工电子产品可靠性与维修性标准化技术委员会(SAC/TC24)归口。
本标准起草单位:工业和信息化部电子第五研究所、北京航空工程技术研究中心、芫湖赛宝信息产
业技术研究院有限公司、北京大学。
本标准主要起草人:高军、梅文华、侯卫国、黄永华、李东风、程德斌、时钟
本标准所代替标准的历次版本发布情况为
B/T15174-1994。
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