JBT 54283-1999 量具量仪产品质量分等 电子数显卡尺.pdf
- 配套讲稿:
如PPT文件的首页显示word图标,表示该PPT已包含配套word讲稿。双击word图标可打开word文档。
- 特殊限制:
部分文档作品中含有的国旗、国徽等图片,仅作为作品整体效果示例展示,禁止商用。设计者仅对作品中独创性部分享有著作权。
- 关 键 词:
- JBT 54283-1999 量具量仪产品质量分等 电子数显卡尺 54283 1999 量具 量仪 产品质量 分等 电子 显卡
- 资源描述:
-
中华人民共和国杌械行业标准
JB/"54283-1999
量具量仪产品质量分等
电子数显卡尺
(内部使用)
999-0609发布
200001-01实施
国家机械工业业局发布
JB/T54283-199
木标准是对JB/T5428394《电子数显卡尺产品质量分等》的修订。
木标准与JB/T54283-94的技术内容一致,仅按有关规定重新进行了编针。
木标准自实施之日起代替JB/T54283-9。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会提出并归口。
本标准负责起草单位:上海量具刃具
本标准参加起草单位:成都量具力具厂、北京量具力具厂、安微量具刃具。
本标准主要起草人:金明生、王佶、杨淑珍、董尚志。
本标准于1990年首次发布。
中华人民共和国机械行业标准
JB/T54283-199
量具量仪产品质量分等
代替JBT54283-94
电子数显卡尺
(内部使用)
范围
本标准规定了电子数显卡尺的合格品、一等品和优等品的各项质量指标
本标准适用于成批生产的电子数品卡尺质量等级的评定。
2引用标准
下列标准所包含的条文,通过在木标准中引用而构成为木标准的条文。木标准出版时,所示版木均
为有效。所有标准都会被修订,使用木标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的叮能性:。
GB/T1489-199电子数显卡尺
JB/T54247.1-1906量貝量仪产品质量分等通则
JB/T54247.2-196量具量仪产品质量分等拙样验收细则
合格品
合格品必须込到GB/T14899规定的各项要求,按照JB/T54247.1的规定,其不合格项分为:
3.1A类不合格(致命缺陷类)
3.1.1电子数显卡尺的示值误差见表1。
测量范围
0-20
±003
>200300
004
>300500
005
3.1.2内测量爪尺寸见表2。
表2
?形内测量爪尺寸偏差
园弧形内測量爪尺寸偏差
+0.Ol5
+001
0
3.1.3测量深度及台阶尺寸20mm时的示值误差应不大于0.03mm
3.2B类不合格(重缺陷类)
国家机械工业局199906-09批准
20001-01实施
JB/"TF54283-1999
3.2.1外观:电子数显卡尺上.不得有影响使用性能的外部缺陷。
3.2.2相互作用:电子数显卡尺的尺框应能沿尺身平稳移动,无ド滞和松现象,各按钮应灵活、可
3.2.3电子数显ド人内外测量爪测量面的硬度应不低于64IV(≈58HRC),不锈钢材质测量面的硬
度应不低于551HV(≈525HRC),其它测量面的硬度应不低于377HV(≈40HIRC)。
3.2.4电子数显卡尺测量面的表面湘糙度R的最大允许值见表3。
表3
内测量爪测量面
外测量爪测量面
其它测量面
R0.32
Ra0.16
Ra1063
3.2.5电子数显卡尺外测量面平面度公差为0.002mm。
注:测最面边缘0.2m范围内不计
3.2.6电子数显卡尺外测量爪测量面无论尺框紧固与否,其平行度公差见表4。
表4
mi
外测量爪测軍面
在测量范団内任何位置
测量范围
合并后的最人间隙
上.两测量面间的平行度
0-~150:0200
0-300:0-500
0.02
3.2.7电子数显卡尺刀口形测量爪的平行度公差为0.l1mm。
3.2.8电子数显卡尺的示值变动性应不大于0.0lms
3.2.9电子数显卡尺两测量面在任意位置时数值的漂移应不大于0.01mms
3.2.10电子数显卡尺的工作温度为0~40℃。
3.2.11电子数显卡尺的电流功耗应不大于25uA
3.2.12电子数显卡尺尺框移动速度应不小于1m
3.2.13电子数显卡尺上应标志
a)制造厂厂名或注册商标
b)产品序号
3.2.14包装盒上应标志
a)制造丿丿名或注册商标;
b)产品名称
c)测量范围
3.2.15产品合格证上应标志:
a)产品标准的标准编号
c)出)日期。
JB/"TF54283-1999
3.3C类不合格(轻缺陷类
3.3.1外观:应符合JBT54247.1-199%附录B中第B2章的规定。
3.3.2电子数显卡尺测量爪伸出长度和圆弧形内测量爪的合并宽度应符合表5的规定。
表5
m
测量爪最小伸し内測量爪最小伸出长度2刀口形外测量爪「圆弧形内测量
型式「测量范围
出长度
圆弧形最小伸出长度」爪合并宽度b
TI、II0~200
I、m
0-300
10
0-S00
12
3.3.3电子数显卡尺内、外测量爪合并后伸出长度应一致。
3.3.4电子数显卡尺的清洁度应不大于表6的规定。
表6
测量范围m
0-150
0)-200:0300
0-5(00
度
等品除达到合格品的各项要求外,还必须达到如下要求。
4.1电子数显卡尺尺框移动速度应不小于1.5mVs。
4.2电子数显卡尺尺框沿尺身移动时,其移动力和移动力变化应不小于表7的规定。
表7
测量范围mm
移动力
移动力变化
0~200:0300
3~8
0-500
4.3电子数显卡尺尺框相对尺身晃动最应不大于表8的规定。
表8
测量范围
5
0-200:0300
4.4电子数显卡尺内、外测量爪合并后伸出长度应不大于表9的规定
展开阅读全文
文档分享网所有资源均是用户自行上传分享,仅供网友学习交流,未经上传用户书面授权,请勿作他用。



链接地址:https://www.wdfxw.net/doc29982009.htm