GBT 4098.8-1983 射频电缆低温试验方法.pdf
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- GBT 4098.8-1983 射频电缆低温试验方法 4098.8 1983 射频 电缆 低温 试验 方法
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中华人民共和国国家标准
UDC.621.315.2:537
5:621.317.3
射频电缆低温试验方法
GB4098.8-83
Test method of low-tem perati
for radio-frequency cables
本标准适用于考查柔软和半柔软射频电缆在低温下的弯曲性能。
试样
1实芯聚乙烯绝缘射频电缆的试祥长度,除另有规定外按表1选取。其他型式电缆的试样长度
按有关标的规定。
表1
电缆标称外径
n【上
试样长度
1201
1.2试样应从成品电缆上截取,电缆护套外面如有铠装,则试验前应将铠装去。
试验设备
2.1低温试验箱(室):应符合GB2423,1-81《电に电子产品本环境试验规程试验A:低
温试验方法》中第4章的规定。
2.2卷绕用芯轴:除另有规定外,其直係为电缆标称外径的10倍。
3试验步骤
3.1将试样直地放人低温箱(室)内,如设各不允许平直放时,也可把试样卷成直不小
电鎖标称外径30倍的圈東放置。试验弯曲用的芯轴,也应?一-起放入低温箱(室)内。
3.2除另有规定外,按表2调节低温箱(室)的温度。
电
称
头芯聚乙烯绝缘、聚氯乙娇护套射电缆
1(J±3C
头聚四氟乙缘、紙护食射频电缆
55±3
实と聚四乙烯绝缘、滎四鲺乙悕护射颂电缆
553C
3.3试验时间从箱(室)温达到規定温度时算起,试样在规定温度下保持20小时。
8.4试验时间终了时,在同温下将试样以大约每4秒1閉的卷绕速度在芯轴上:密绕,卷绕所用的
芯轴直径及卷绕图数,对实芯绝缘射频电缆除另有规定外按表3确定。
国家标准局1983-12-27发布
984-12-01实施
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GB4098.8~83
表
电缆标称外径D
巻绕的芯轴直径
卷绕图数
10D
12.7
4试验后要求
从试验箱(室)中取出试样后,其绝缘和护套应无机械损伤
注:划形电缆的卷绕直径应是短轴的19倍,卷绕时短轴应与芯轴轴线垂直
附加说明
本标准由中华人民共和国电子工业部提出。
本杯准由电子L业.部大じ九「等负费起草。
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