石英玻璃析晶性能试验方法.pdf
筑神-建筑下载:htp/www.zhushen.com,cn石英玻璃析晶性能试验方法本标准适用于测定透明石英玻璃管及其制品的析晶性能试验原理石英玻璃在高温下长时间使用时,会产生不透明的方石英晶体,即发生所谓的析晶现象。开始时为孤立的白色析晶点,随着时间的延长,析点増多并长人,连成片,并从表面向内部延伸,使石英坡璃完?失透,此方法就是将试样保持在高温下,恒温一定时间,测定玻璃表面失透层的厚度。2试样的制备2.1外径25m以下的石英现璃管,切取长度15m整管试样三段。2外径25mm以t的石英玻璃管出取弦长25mm,长度15mm的试样二块。切取石英坡璃坩埚弧度部分和石英坡璃器皿的使用部位25mmX15mm的试样三块。以上试样均为原壁厚,表面不大加工,试样切口处用金刚砂(W10)磨平,不能有崩口。3试验设备3.1电热干燥箱一台。2立式高温二硅化钼电炉一台3.2.1电炉必须貝有双层炉膛,内膛为高纯氧化二铝材料制成。炉内样品台上放有石英垫3.2.2电炉温度要有P.1.D.自动控制,精度为士1,24小时内稳定度为士2.5C.炉温均匀,梯度士10。3.2.3各厂每年要送样到建材研究院核对测量结果,以达到校验设备之口的。3.3测量显微镜一台:测量精度为5u,放大倍数为1004试验步骤筑神-建銳下载:htp:/www.zhushen.com.cn试祥于10%浓度的化学纯氢氟酸溶液中浸泡15分钟,取出用自来水洗15分钟,然后再用去离子水冲洗二次(每次1分钟)。把洗净的试样用夹子(非金属材料)取出放在垫有清洁纱布的干燥培养皿中(沙布和培养皿均用去离子水洗浄、烘干)烘干。在整个操作过程中不得用手直接触摸试样,以防沽污。4.2将处理干浄的试样放入己恒温1400的高温炉中,在1400下恒温6小时(恒温期问电炉温度波动不得大于土5)。然后立即打开炉用清洁的坩場钳将试样取出。待稍冷后放入保护石蜡与松香混合溶液中(石蜡:松香=4:1)。4.3将试样炳端析晶层用金刚砂(W10)磨掉,抛光。用汽油把保护蜡洗掉。5测量与计算5.1将每块试样分别于测量显微境下测量析晶厚度,平均2mm取一点(每块试样最少要取10个点),同时测量出内层、中层、外层析晶层厚度计算公式:ui=ui内+ui中+ui外式中:ui每一点的内外析晶层厚度之和;i一测量点的数量u一每块试样析晶层的平均厚度三块试样析晶层厚度之平均值为这批试样的析晶层平均厚度。5.2=块试样的析晶层厚度测量值偏差人于其中最大值的30%时应重新取样,测量。但重新取样次数不得超过三次。实验结果按所测次数的总平均值计算
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石英玻璃
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石英玻璃析晶性能试验方法
本标准适用于测定透明石英玻璃管及其制品的析晶性能
试验原理
石英玻璃在高温下长时间使用时,会产生不透明的方石英晶体,即发生所谓的析
晶现象。开始时为孤立的白色析晶点,随着时间的延长,析点増多并长人,连成
片,并从表面向内部延伸,使石英坡璃完?失透,此方法就是将试样保持在高
温下,恒温一定时间,测定玻璃表面失透层的厚度。
2试样的制备
2.1外径25m以下的石英现璃管,切取长度15m整管试样三段。
2外径25mm以t的石英玻璃管出取弦长25mm,长度15mm的试样二块。
切取石英坡璃坩埚弧度部分和石英坡璃器皿的使用部位25mmX15mm的试样
三块。
以上试样均为原壁厚,表面不大加工,试样切口处用金刚砂(W10)磨平,不能
有崩口。
3试验设备
3.1电热干燥箱一台。
2立式高温二硅化钼电炉一台
3.2.1电炉必须貝有双层炉膛,内膛为高纯氧化二铝材料制成。炉内样品
台上放有石英垫
3.2.2电炉温度要有P.1.D.自动控制,精度为士1,24小时内稳定度为士2.5C.炉
温均匀,梯度≤士10℃。
3.2.3各厂每年要送样到建材研究院核对测量结果,以达到校验设备之口的。
3.3测量显微镜一台:测量精度为5u,放大倍数为100
4试验步骤
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试祥于10%浓度的化学纯氢氟酸溶液中浸泡15分钟,取出用自来水洗
15分钟,然后再用去离子水冲洗二次(每次1分钟)。把洗净的试样用夹子(非
金属材料)取出放在垫有清洁纱布的干燥培养皿中(沙布和培养皿均用去离子水
洗浄、烘干)烘干。在整个操作
过程中不得用手直接触摸试样,以防沽污。
4.2将处理干浄的试样放入己恒温1400℃的高温炉中,在1400℃下恒温6小时
(恒温期问电炉温度波动不得大于土5℃)。然后立即打开炉用清洁的坩場钳
将试样取出。待稍冷后放入保护石蜡与松香混合溶液中(石蜡:松香=4:1)。
4.3将试样炳端析晶层用金刚砂(W10)磨掉,抛光。用汽油把保护蜡洗掉。
5测量与计算
5.1将每块试样分别于测量显微境下测量析晶厚度,平均2mm取一点(每块试
样最少要取10个点),同时测量出内层、中层、外层析晶层厚度
计算公式:
ui=ui内+ui中+ui外
式中:ui每一点的内
外析晶层厚度之和;
i一测量点的数量
uー一每块试样析晶层的平均厚度
三块试样析晶层厚度之平均值为这批试样的析晶层平均厚度。
5.2=块试样的析晶层厚度测量值偏差人于其中最大值的30%时应重新取样,测量。但重
新取样次数不得超过三次。实验结果按所测次数的总平均值计算
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