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类型SJ 50033 13-1994 半导体分立器件 3DK210型功率开关晶体管详细规范.pdf

  • 上传人:heal
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    关 键  词:
    SJ 50033 13-1994 半导体分立器件 3DK210型功率开关晶体管详细规范 13 1994 半导体 分立 器件 DK210 功率 开关 晶体管 详细 规范
    资源描述:
    中华人民共和图电子行业军用标准
    半导体分立器件
    SJ50033/13-94
    3DK210型功率开关晶体嘗详细规范
    1范围
    1.1主题內容
    本规范觌定了3DK210A~型NPN硅功率开关晶体管的详细要求。每种器件均按
    GJB33《半导体分立器件总规范的规定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。
    1.2外形尺寸
    外形尺寸应按GB7581《半导体分立器件外形尺す》的32ー01C或B2-01D型及如下规
    定(兄图1)
    B2·0C
    B2-6I)
    Ry
    6x?2

    min nom max min non mmax
    u asum
    2.1g12.?15
    的。9.96
    5,46
    P13.84
    Ri
    R
    4,82
    25.0
    1.3最大额定值
    中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布
    194-12-01实施
    SJ50033/13-94
    FHO
    型号ro=25℃
    (W)
    (V)
    (V)」(A)「(A)(C)
    (℃
    3DK210A
    3DK210C
    3DK210D
    150
    3DK210E
    300
    620701175
    55~175
    3DE210E
    250
    3DK210G
    250
    45
    3DK210I
    500
    450
    注:1)Tc>25℃,按200maW/℃的速率线性地降额。
    1.4主要电特性(TA=25℃)
    限值」a"aurm』_44」方
    C
    =10A
    CE =5, OY
    =1,0A
    Ic=2.OA IE=0 VCE=25V
    k=-1.0A
    F-3.OMHZF=0. IMHALIC=4.A
    Ic=10A
    (MHx)(pF)「(℃/W)
    max
    max
    In
    max
    max
    DK20A红15~25
    2
    黄40~51.0「1.511.0「2.5a,6
    1100
    绿55~80
    80~12C
    注:1)kre1≤40各档,其误差不超过士20%;h:>40各档,其误差不超过士10%
    2引用文件
    GB4587双极型晶体管测试方法
    GB7581半导体分立器件外形尺寸
    GJB33半导体分立器件总规范
    GJB128半导体分立器件试验方法
    3求
    3.1详细要求
    各项要求应按GJB33和本规范的规定。
    3.2设汁、结构和外形尺寸
    器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的规定
    2.1引出线材料和涂层
    SJ50033/13-94
    引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或镍层。对引出线涂层有选择要求时,在合同
    或订货单中应予规定。
    3-3标
    器件的标志应按GJB33的规定
    4质量保证规定
    4.1抽样和枪验
    抽样和检验应按GJB33利本规范的规定。
    4.2鉴定检验
    瓷定检验应按GIB33的规定。
    4.3筛选(仅对GT和CGCT级
    器件的选应按GJB33表2和本规范的规定。下列测试应按本规范表1的规定进行,超
    过本规范表规定极限值的器件应予别除。

    (见GJB33的表2)
    GT和GCT级
    、中间电参数测试
    Ic∞:和bF
    8、功率老化
    见4.3.1
    9、最后测试
    按本规范表1的A2分组
    △Bn≤初始值的100%或300xA,取较大者
    △hra1≤初始的士20‰
    4.3.1功率老化条件
    功率老化条件如下:
    =162.5士12.5℃
    Pa≥150W
    4.4质量一致性检验
    质量一致性檢验应按GJB3的规定进行。
    4.4.1A组检验
    A组检验应按GJB33和本规范表1的规定进行。
    4.4.2B组检验
    B组检验应按GJB33和率规范表2的规定进行。
    4.4.3C组检验
    C组检验应按GJB33和本规范表3的规定进行。
    4.5检验方法
    检验方法应按本规范相应的表和下列规定
    4-5.1脉冲测试
    脉冲测试应按GJB128的3.3,2.1的规定。
    4.5.2热阻
    SJ5033/13~-94
    热阻测试应按GB4587的2.10和下列规定。
    a.加功率时的lc=4.0At
    b. VCE =25V
    c.基准温度测试点应为管壳;
    d.基准点温度范围为25℃≤Tc≤75C,实际温度应记录;
    e.安装应带散热装置;
    F.Ra-:的最大极限值应为.5℃/W。
    4.5.3C组寿命试验
    C组寿命试验应按GJB33和本规范的规定进行。
    4.5.4恒定加速度
    恒定加速度试验应按GJB33和本规范的规定进行。
    表1A组检验
    GB4587
    极限值
    检验或试验
    LTPD符号
    单位
    方法
    条件
    min
    A分组
    GJ B 128
    外观及机械检验
    2071
    A2分组
    集电极一发射极本规范发射极~基极开路
    CER CEO
    击穿电压
    附录A「em5mA
    3DK210A
    3DK210B
    3DK210D
    110
    3DK210E
    3DK2I0F
    00
    3DK210
    3DK210H
    3DK210
    发射极一基极
    2..2.2集电极一基极开路
    击筹电压
    I: =5MA
    集电极一基极
    发射极一·基极开路;
    截止电流
    集电极一发射极
    2.1,4发射极一基极开路;
    止电流
    2 CEO
    发射极一基极
    2.2集电极一基极开路
    0,6
    A
    截止电流
    V
    集电极一发射极
    c=10A
    1.0
    饱和电压
    IB=1. OA
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