SJ 20712-1998 计数检查单水平和多水平连续抽样检查程序及表.pdf

中华人民共和国电子行业军用标准
FL0110
SJ20712--1998
计数检查单水平和多水平连续抽样
检查程序及表
Single-and multi-level continuous
sampling procedures and tables
for inspection by attributes
1998-03-18发布
1998-05-01实施
中华人民共和国电子工业部批准
前言
1.本标准等效采用美国军用标准ML~STD-1235C-1988《计数检査单水平和多
水平连续抽样检査程序及表》,其格式及颅序是按1990年3月国防科工委颁发的《国家军
用标准编写的暂行规定》编制的。
2.本标准提供的程序和表是为了应用计数检査连续抽样检査方案,这些连续抽
样检査方案的特点及相互关系如下
a,CSP-1型是一种单水平连续抽样检査方案,规定了百分之百检査程序与抽样
检查程序之间交替进行
b.CSP-F型连续抽样检査方案适用于相对短的単单位产品序列,是CSP一1型的
一种特殊类型连续抽样检查方案,因此允许使用较小的连续合格品数
c.CsP-2型是CSP-1型的改型连续抽样检查方案,其中只有当出现不超过规
定的连续合格样本单位数有二个不合格品オ返回到百分之百检査;
d.CSP-T型是一种多水平连续抽样检査方案,在证实产品质量优良时该类型连
续抽样检查方案规定了减少抽样检查频数
e.CSP-V型也是一种单水平连续抽样检査方案,在证实产品质量优良时该类型
连续抽样检查方案规定了减小连续合格品数。在抽样检査频数减小没有经济价值的情
况下,CSP-V型相对于CSPーT型是另一种可供选择的连续抽样检査方案。
上述五种不同类型逴续抽样检査方案之详细情况,见本标准第5章
本标准与MILー-STD-1235C-1988的主要差异有以下儿点
a.本标准在附录A、附录B、附录C及跗录D分别给出CSP-1型、CSP-2型
CSp-T型及CSP-v型连续抽样检査方案之功能曲线的绘制方法;而ML-STD
1235C-1988在附录A、附录B、附录C及附录D分别直接给出CSP-1型、CSP-2
型、CSPT型及CSP-V型连续抽样检査方案的功能曲线
b.本标准将MIL-STD-1235C-1988之工作项目100系列的全部内容移至第5
章,并按1990年3月国防科工委颁发的《国家军用标准编写的暂行规定》之第一篇“附
录A标准和指导性技术文件的层次编写示例(补充件〉”重新进行了編写
c.本标准将MIL-STD-1235C-1988第3章的术语、缩写词及符号分开定义,
并按术语所处概念体系中的位置及相互关系重新编号,另外把补充的两个常用术语“样
本单位”和“样本”插入到适当位置。
4.MIL-STD-1235C-1988未给出CSP-F型连续抽样检夺方案的功能曲线
是为没有研制出确定它们的精确方法,故本标准也未给出CSP-F型连续抽样检
方案之功能曲线的绘制方法。
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目次
1范围
1.1主题内容………………………
1.2适用范围……
?喜中串中p
1.3应用指南………
2引用文件
2)
3定义…
(2
3.1术语
3.2缩写词
5)
符号
4一般要求
4章 494A.644.aゃ中自中中中
4.1缺陷与不合格品分类
4.2合格质量水平……………………………
4.3平均检出质量………
4.4提交单位产品……
(7)
4.5接收与拒收
4.6取出样本………………………
P甲导
4.7连续抽样检査方案
4.8暂停验收……
4.9估计过程平均…
4.10绘制功能曲线
(10)
4.11平均检出质量曲线…………
D
(10)
4.12平均检査比例曲线……
(10)
4.13抽样检查特性曲线……
5详细要求…
(11)
5.1CSRP一1型连续抽样检査方案…………………………………(11)
5.2CSP一F型连续抽样检査方案………………………
(16)
5.3CSP-2型连续抽样检査方案…
(31)
5.4CSPーT型连续抽样检査方案
(35)
5.5CSP-V型连续抽样检査方案……………(39)
6说明事项………………………………
6.1预定用途………(43)
6.2主题术语………(43)
附录ACSP-1型连续抽样检査方案的功能曲线绘制方法(参考件)…(44)
附录BCSP-2型连续抽样检査方案的功能曲线绘制方法(参考件)…(49)
附录CCSPーT型连续抽样检查方案的功能曲线绘制方法(参考件)…
附录DCSP-V型连续抽样检查方案的功能曲线绘制方法(参考件)…(59)
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