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类型SJ 50033.16-1994 半导体分立器件.3DK307型功率开关晶体管详细规范.pdf

  • 上传人:mr麦大麦
  • 文档编号:14193674
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    关 键  词:
    SJ 50033.16-1994 半导体分立器件.3DK307型功率开关晶体管详细规范 50033.16 1994 半导体 分立 器件 DK307 功率 开关 晶体管 详细 规范
    资源描述:
    中华人民共和国电子行业军用标准
    半导体分立器件
    SJ500331694
    3DK307型功率开关晶体管详细规范
    1范?
    1.1主题内容
    本规范规定了3DK307.A~G型NPN硅功率开关晶体管的详细要求、每种器件均按
    GJB33半导体分立器件总规范》的规定,提供产品保证的=个等级(GP、iT和GCT级)。
    1.2外形尺寸
    外形尺寸应按GB75811半导体分立器件外形尺寸》的B2-0iC型及如下规定(见图1):
    代号
    B2-01C
    n3??
    符号
    toil
    a
    2.19
    1.52
    0,966
    22.86
    3.50
    8.P
    13.9
    30.40
    13.58

    40.13
    .17
    中华人民共和国电子工业部1994-09-30发布
    1994-12-01实施
    S.J50033/1694
    1.3最大额定值
    CN

    Tc25 C'
    (W)
    (V)
    (V)
    V)くA)「A)(C
    3DK307.A
    700
    3DK307B
    800
    3DK30
    3DK307D
    100
    1000
    55~175
    3DK307E
    3DK307F
    1300
    3D K307G
    1500
    800
    注:1)Tc>25C,按666mW/〔的速率线性地降额。
    1.4主要电特性(Ta=25C
    极限值
    、=2.5A
    ve=VJa=0.54A=0.5
    I -0.5A/-0, 1MHZ VCE =25V
    I=-0,75A
    f3.0MHl』=0c=1,3A
    Ir =2. 5A
    (V)
    MHZ>
    (pF)「(C/W
    型号
    nax
    棕7~15
    3DK307A~G红15~2
    概25~0?151.「1.012.11.「6

    绿55~8
    注:1)hru:≤0各档,其误差不超过士20%;h>40各档、其误差不超过さ10%。
    2引用文件
    GB4587双极型晶体管测试方法
    GB7581半导体分立器件外形尺寸
    GJB33半导体分立器件总规范
    GJB128半导体分立器件试验方法
    3要求
    3.1详细要求
    各项要求应按GJB33和本规范的規定
    2设计、结构和外形尺寸
    器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB33和本规范的趔定。
    3-2.1引出线材料和涂层
    S50033/16-94
    引出线材料应为可伐,引出线表面应为锡层或镍层。对引出线涂层有选择要求时,在合同
    或订货单中应予规定
    3.3标志
    器件的标志应按GJB33的规定。
    4质保证规定
    4.1抽样和检验
    抽样和检验应按GJB33和本规范的规定。
    4.2鉴定检验
    鉴定检验应按GJB33的规定
    4.3筛选(仅对GT和GCT级)
    器件的筛选应按GJB33表2和本规范的规定。下列測试应按本规范表1的规定进行,超
    过本规范表1规定极限值的器件应予剔除




    (见GJB33的表2
    GT和GCT级
    7、中间参数测试
    rwm和he
    8、功率老化
    见4,3.1
    9,最后测试
    按本规范表1的A2分组
    A「sm≤初始值的100%或200aA,取较大者。
    △hFr;≤初始偵的士20%
    4.3.1功率老化条件
    功率老化条件如下:
    T=162.5士12,5C
    CE =25V
    Po≥50WV
    4.4质量一致性检验
    质量一致性检验应按JB33的规定进行
    4.4.1A组检验
    A组检验应按GJB3和本规范表1的规定进行。
    4,4-2B组检验
    B组检验应按GJB3和本规范表2的规定进行。
    4.4-3C组检验
    C组检验应按GjB38和本規范表3的规定进行
    4.5检验方法
    检验方法应按本规范相应的表和下列规定。
    4-5.1脉冲测试
    脉冲测试应按GJB128的3.3.2.1的规定。
    S.J50033/16-94
    4.5.2热阻
    热阻测试应按GB4587的2.10和下列规定。
    a.加功率时的lc=:1.3A
    b. YCE=25v
    c.基准温度测试点应为管壳;
    d.、基准点温度范围为25C≤T≤75C,实际温度应记录;
    e.安装应带散热裝置;
    f.Ra-的最大极限值应为1.5C/W
    4.5.3C组寿命试验
    C组寿命试验应接GJB33和本规范的规定进行。
    4.5.4恒定加速度
    恒定加速度试验应拨GJB33和本规范的規定进行。
    表1A组检验
    GB4587
    极限值
    检验或试验
    1TP)符号
    単位
    方法
    条件
    max
    A1分组
    (JB128
    外观及机被检验
    2071
    A2分组
    5
    缏电根一发射极本规范发射极一基板开路
    HR 'E (1
    击穿电压
    附录Ad=5mA
    3DK307A
    3DK307B
    3DK307C
    500
    DK307D
    3DK307E
    60
    V
    3DK307F
    700
    3DK307G
    800
    发射极一基极
    集电极一基极开路
    ER+EB)
    6
    击穿电压
    「r=5mA
    电极一基极
    2.1发射极一燕极开路
    A
    载止电流
    VSH Vcr
    築电极一发射极
    2.1.4发射极一基极开路
    截止电流
    发射极…基极
    2集电极“基极开路;
    0,4
    MA
    徴止电流
    集电极一发射极
    饱和电压
    l=0,5A
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