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GBT 18911-2002 地面用薄膜光伏组件 设计鉴定和定型.pdf

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    GBT 18911-2002 地面用薄膜光伏组件 设计鉴定和定型 18911 2002 地面 薄膜 组件 设计 鉴定 定型
    资源描述:
    ICS 27. 160K 83场黔 中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准 G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 地 面 用 薄 膜 光 伏 组 件 设 计 鉴 定 和 定 型 T h i n - f i l m t e r r e s t r i a l p h o t o v o l t a i c ( P V ) m o d u l e s - D e s i g n q u a l i f i c a t i o n a n d t y p e a p p r o v a l ( I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 , I DT) 2 0 0 2 - 1 2 - 0 4发布2 0 0 3 - 0 5 - 0 1 实施 rP 鑫 颤 晶 巍 熟 MA il M发 “ G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 曰 J B li青 本标准等同采用 I E C 6 1 6 4 6 ; 1 9 9 6 地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型)( 英文版) 。 本标准与国际标准 I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 主要技术差异有: a ) I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 标准出版时, 其中紫外试验引用的 I E C 6 1 3 4 5 标准还未完成, 以资料性附录 给出。 现该标准已正式出版为I E C 6 1 3 4 5 ; 1 9 9 8 光伏组件的紫外试验 , 将这一标准加人本标 准的引用标准中, 不再列为附录 ; h ) I E C 6 1 6 4 6 0 9 9 6 的“ 1 0 . 2 0 湿漏电流试验” 中合格试验条件规定不明确, 而目前处于 C D阶 段的I E C 6 1 2 1 5 第2 版, 对该条件的规定明确合理, 同时在试验方法上也作了些修改, 故本标 准将目 前 I E C 6 1 2 1 5 第 2 版( C D ) 中相关部分以附录 A的形式给出。 为了便于使用, 本标准做了下列编辑性修改; a ) “ 本国际标准” 一词改为“ 本标准” ; b ) 删除国际标准的前言。 本标准的附录 A为资料性附录。 本标准由中华人民共和国 信息产业部提出。 本标准由全国太阳光伏能源系统标准化技术委员会归口。 本标准起草单位: 云南师范大学太阳能研究所、 云南半导体器件厂。 本标准主要起草人: 刘祖明、 涂洁磊、 李杰慧、 廖 华、 汪义川、 杨华兮、 杨燮生。 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 地 面 用 薄 膜 光 伏 组 件 设 计 鉴 定 和 定 型 1 范围和 目的 本标准规定了地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型的要求, 该组件是在 G B / T 4 7 9 7 . 1 -1 9 8 4 和 I E C 6 0 7 2 1 - 2 - 1 第1 修正案: 1 9 8 7 中所定义的一般室外气候条件下长期使用。本标准制定时是以非晶 硅薄膜组件技术为主, 但同样适用于其他薄膜光伏组件。鉴于其他新技术的特殊性能, 有可能需要对该 试验程序做修订 。 本试验程序主要依据 G B / T 9 5 3 5 -1 9 9 8 地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型 而制定, 针对 非晶硅薄膜组件的特殊性能作了一些必要的修改。光老炼用于区别光致衰减与其他衰减机制, 并将试 验程序后期的最大功率作为薄膜组件长期工作性能估计。为区别热循环和湿一热试验中可能产生的退 火效应, 组件在这些试验之前需进行退火。对于不采用非晶 硅的其他薄膜形成技术, 诸如光老炼和退火 的预处理可能不同或可能证明是不需要 。因为所有类型的薄膜组件易受潮 引起侵蚀 , 故须增加一个湿 漏电流试验。 本试验程序的目 的是在尽可能合理的经费和时间内确定组件的电性能和热性能, 表明组件能够在 规定的气候条件下长期使用。 通过此试验的组件的实际使用寿命期望值将取决于组件的设计以及它们 使用的环境和条件。 本标准不适用于带聚光器的组件 。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注 日期的引用文件, 其 随 后所 有的修 改单 ( 不包 括勘误 的 内容) 或修订 版 均不 适用 于 本标 准 , 然 而 , 鼓 励 根据 本标 准 达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注 日 期的引用文件 , 其最新版本适用 于本标 准 。 G B / T 2 4 2 1 -1 9 9 9 电工电子产品环境试验第 1 部分: 总则( i d t I E C 6 0 0 6 8 - 1 : 1 9 8 8 、 第 1 修正案: 1 9 9 2 ) G B / T 2 4 2 3 . 3 -1 9 9 3 电工电子产品基本环境试验规程试验 C a : 恒定湿热试 验方法 ( e q v I E C 6 0 0 6 8 - 2 - 3 : 1 9 8 4 ) G B / T 2 4 2 3 . 2 9 -1 9 9 9 电工电子产品环境试验第 2 部分: 试验方法试验 U: 引出端及整体安 装件强度( i d t I E C 6 0 0 6 8 - 2 - 2 1 : 1 9 9 2 ) G B / T 2 8 2 9 -2 0 0 2 周期检验计数抽样程序及表( 适用于对过程稳定性的检验) G B / T 4 7 9 7 . 1 -1 9 8 4 电工电子产品自 然环境条件温度与湿度( n e q I E C 6 0 7 2 1 - 2 - 1 : 1 9 8 2 ) G B / T 6 4 9 5 . 1 -1 9 9 6 光伏器件第 1 部分: 光伏电流一电 压特性的测量(( i d t I E C 6 0 9 0 4 - 1 : 1 9 8 7 ) G B / T 6 4 9 5 . 3 -1 9 9 6 光伏器件第 3 部分: 地面用光伏器件的测试原理及标准光谱辐照度数据 ( i d t I E C 6 0 9 0 4 - 3 : 1 9 8 9 ) G B / T 6 4 9 5 . 4 - - 1 9 9 6 晶体硅光伏器件 I - V实测特性的温度和辐照度修正方法( i d t I E C 6 0 8 9 1 : 1 9 8 7 、 第 1 修正案: 1 9 9 2 ) G B / T 9 5 3 5 -1 9 9 8 地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型( e q v I E C 6 1 2 1 5 : 1 9 9 3 ) G B / T 2 4 2 3 . 2 -2 0 0 1电工 电子产 品环境试 验第 2部分 : 试 验方法试验 B : 高温 G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 ( i d t I E C 6 0 0 6 8 - 2 - 2 ; 1 9 7 4 、 第 1 修正案 : 1 9 9 3 、 第 2 修正案 : 1 9 9 4 ) I E C 6 0 7 2 1 - 2 - 1第1 修正案: 1 9 8 7 环境条件类别 第2 部分: 自 然环境条件一温度与湿度 I E C 6 0 9 0 4 - 9 : 1 9 9 5 光伏器件第 9 部分: 太阳 模拟器性能要求 I E C 6 1 3 4 5 : 1 9 9 8 光伏组件的紫外试验 I E C Q C 0 0 1 0 0 2 : 1 9 8 6 I E C电子元器件质量评定体系( I E C Q ) 程序规则 第 2 修正案: 1 9 9 4 3 抽样 从同一批或几批产品中, 按 G B / T 2 8 2 9 -2 0 0 2 规定的方法随机地抽八个( 如需要可增加备份) 组件 用于鉴定试验。这些组件应由符合相应图纸和工艺要求规定的材料和元器件所制造, 并经过制造厂常 规检测、 质量控制与产品验收程序。组件应该是完整的, 并附有制造厂的搬运、 安装和连接说明书, 包括 系统最大许可电压。 如果被试验的组件是一种新设计的 样品而不是来自于生产线上, 应在试验报告中加以说明( 见第 8 章) 。 4 标志 每个组件都应有下列清晰而且擦不掉的标志: a ) 制造厂的名称、 标志或代号; b ) 产品型号; C ) 产品序号; d ) 引出端或引线的极性( 可用色码标识) ; e ) 组件允许的最大系统电 压; f ) 在标准测试条件下, 该型号产品最大输出功率的标称值和最小值。 制造的日 期和地点应注明在组件L , 或可由产品序号查到。 5 试验 把组件分组, 并按图 1 所示的程序进行鉴定试验。图中每个方框对应本标准的一条。具体试 验的方法和要求, 包括所需要进行的初始和最终的测试, 都在第 1 0 章中详细规定。但是 1 0 . 2 , 1 0 . 4 , 1 0 . 6 及 1 0 . 7 的试验, 应注意到 G B / T 6 4 9 5 . 4 -1 9 9 6 所描述 I - V特性测量的温度和辐照度 修正方法仅适用于线性组件。若组件为非线性的, 这些试验应在规定辐照度的士5 和规定温度 的士2 范围内进行。 注: 若将一个试验的最终测试作为下一个试验的初始测试时, 不需要重复测试, 这种情况下, 该试验的初始测试可 省略。 任何独立进行的单一试验, 均应进行 1 0 . 1 , 1 0 . 2 和 1 0 . 3 初始试验。 在试验中, 操作者应严格遵照制造厂关于组件的搬运、 安装和连接的要求。如组件 的温度 系数 a 和 夕 已知, 1 0 . 4 的测试可省略。对于不采用非晶硅技术的其他薄膜形成技术 , 若 已证明 退火及光老炼对性能无影响( 最大功率变化小于 0 . 5 %) , 则可以省去该两项试验 。试验报告应 说明省去任何步骤的理由。 试验 条件汇 总见表 1 , 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 s 个组件 心 “如 果 。 和9已 知可省略。 b如组件未设计为敞开式支架安装, 标称工作温度可用标准参考环境条件下, 按制造厂推荐方法安装时的平均结 温代替。 图 1 鉴定试验程序 G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 表 1 试验条件一览表 一 6 合格判据 如果德一个试验样品达到下列各项判据 , 则认为 该组件设计通过了鉴定试验, 也通过 了定型。 a ) 在标准测试条件一 , 组件的最大输出功率衰减在每个单项试验后不超过规定的极限; b ) 在最后光老炼之后, 标准测试条件下的最大输出功率不小于第 4 章制造厂给定最小值 的 9 0 ; c ) 在试验过程中, 无组件呈现断路或漏电现象; d ) 无第 7 章中定义的任何严重外观缺陷; e ) 满足 1 0 . 3 , 1 0 . 2 0 的试验要求。 如果两个或两个以 1几 组件达不到上述判据, 该设计将视为达不到鉴定要求。如果一个组件未通过 任一项试验, 取另外两个满足第 3 章要求的组件从头进行全部相关试验程序的试验。假如其中的一个 或两个组件都未通过试验, 该设计被判定达不到鉴定要求。如果两个组件都通过了试验, 则该设计被认 为达到鉴定要求 。 标准分享网 w w w .b z f x w .c o m 免费下载 G B / T 1 8 9 1 1 -2 0 0 2 / I E C 6 1 6 4 6 : 1 9 9 6 7 严重外观缺陷 对设计鉴定和定型来说, 下列缺陷是严重的外观缺陷: a ) 破碎、 开裂、 弯曲、 不规
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