LD_T 6001.4-2023 社会保障卡检测规范 第4部分：读写终端检测.pdf

ICS 35.240.15 CCS L 64 备案号 92457-2024 LD 中华人民共和国劳动和劳动安全行业标准 LD/T 6001.42023 社会保障卡检测规范 第 4 部分：读写终端检测 Test specifications of social security card Part 4:Test of read-write terminal 2023-11-24 发布 2023-12-01 实施 中华人民共和国人力资源和社会保障部 发 布 LD/T 6001.42023 I 目次 前言.II 引言.III 1 范围.1 2 规范性引用文件.1 3 术语和定义.1 4 符号和缩略语.2 5 终端接触部分的机电特性、逻辑接口、传输协议测试.2 测试环境.2 机电特性测试.2 逻辑接口、传输协议测试.4 6 终端非接触部分的电气特性、通讯协议测试.9 测试环境.9 电气特性测试.9 通讯协议.12 7 终端接触部分的高级应用编程接口测试.15 测试环境.15 编程接口测试.16 8 终端非接触部分的高级应用编程接口测试.18 测试环境.18 编程接口测试.18 参考文献.21 LD/T 6001.42023 II 前言 本文件按照GB/T 1.12020标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则的规定起草。本文件是LD/T 6001社会保障卡检测规范的第4部分。LD/T 6001已经发布了以下部分。第 1 部分：卡片质量物理特性检测；第 2 部分：卡内 COS 检测；第 3 部分：卡内数据结构及密钥装载检测（通用性检测）；第 4 部分：读写终端检测；第 5 部分：读写终端接口检测。请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。本文件由人力资源社会保障部提出并归口。本文件起草单位：人力资源社会保障部信息中心、海南省社会保障卡一卡通中心、重庆市社会保障卡服务中心、四川省人力资源社会保障信息中心、贵州省人力资源社会保障信息中心、云南省人力资源社会保障厅信息中心、北京惟望科技发展有限公司、深圳市德卡科技股份有限公司、深圳市明泰智能技术有限公司。本文件主要起草人：徐钰伟、魏丽丽、于斌、王智飞、李娜、李晨星、高琦、宋京燕、李成刚、傅宇星、赵立新、姚丹、张健之、靳朝晖、高燕、张文杰、任小皙、蒋东、段凯智。LD/T 6001.42023 III 引言 社会保障卡全称为“中华人民共和国社会保障卡”，由人力资源社会保障部统一规划，各级人力资源社会保障部门联合服务银行面向社会公众发行，是持卡人享受人力资源社会保障权益及其他政府公共服务权益的服务载体。制定LD/T 6001旨在规范社会保障卡检测工作，健全社会保障卡质量保障机制，提高社会保障卡制作、发行、应用的技术支撑水平，提升社会保障卡安全、通用、便民服务能力，实现“一卡多用、全国通用”，建立以社会保障卡为载体的居民服务“一卡通”。LD/T 6001由五部分组成。第 1 部分：卡片质量物理特性检测。规范社会保障卡卡片物理特性检测方法和流程，保障社会保障卡卡片的物理质量水平符合规范性要求。第 2 部分：卡内 COS 检测。规范社会保障卡卡内操作系统的检测方法和流程，保障社会保障卡卡内操作系统的设计及安全机制符合规范性要求。第 3 部分：卡内数据结构及密钥装载检测（通用性检测）。规范社会保障卡卡内数据结构、读写数据安全性等检测方法和流程，保障社会保障卡卡内数据读写安全符合规范性要求。第 4 部分：读写终端检测。规范社会保障卡读写终端的检测方法和流程，保障社会保障卡应用相关的读写终端符合规范性要求。第 5 部分：读写终端接口检测。规范社会保障卡读写终端接口的检测方法和流程，保障社会保障卡应用相关的读写终端接口符合规范性要求。LD/T 6001.42023 1 社会保障卡检测规范 第 4 部分：读写终端检测 1 范围 本文件规定了社会保障卡读写终端接触和非接触两部分的检测方法，包括终端的机电特性、逻辑接口、传输协议和高级应用编程接口等。本文件适用于社会保障卡应用相关的各类读写终端的检测。2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T 17554.32006 识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备 LD/T 32.2 社会保障卡规范 第2部分：机电特性、逻辑接口与传输协议 LD/T 33 社会保障卡读写终端规范 3 术语和定义 下列术语和定义适用于本文件。冷复位 cold reset 当卡的电源电压和其他信号从静止状态中复苏且申请复位信号时，卡产生的复位。热复位 warm reset 在时钟（CLK）和电源电压（VCC）处于激活状态的前提下，卡收到复位信号时产生的复位。接口设备 interface device 终端上插入卡的部分，包括其中的机械、电气和逻辑控制部分。终端 terminal 为处理卡业务而在服务网点安装的设备，用于同卡的连接，包括接口设备、其他部件和接口。注：终端可包括接口设备、其他部件和接口。命令 command 终端向卡发出的一条信息，该信息启动一个操作或请求一个应答。触点 contact 在集成电路卡（IC卡）和外部接口设备之间保持电流连续性的导电元件。响应 response 卡处理完成收到的命令报文后，返回给终端的报文。交易 transaction 持卡人和业务、管理部门之间根据卡所支持的应用接受、提供服务的行为。LD/T 6001.42023 2 功能 function 由一个或多个命令实现的处理过程，其操作结果用于完成全部或部分交易。ICC 连接器 ICC connector IFD与ICC电气连接的物理实现部分。注：在逻辑上，本文件规定用ICC连接器来标识与其电气上稳定连接的ICC。T=0 面向字符的异步半双工传输协议。T=15 不是传输协议，而是特指其后所传输字符的属性为全局接口字符。4 符号和缩略语 下列符号和缩略语适用于本文件。ATQA：Type A的请求应答（Answer To reQuest,Type A）ATS：选择应答（Answer To Select）FSCI：接近式IC卡帧长度整数（Frame Size for proximity Card Integer）FWI：帧等待时间整数（Frame Waiting time Integer）ICC：集成电路卡（integrated circuit（s）card）I/O：输入/输出（input/output）PCD：使用感应耦合向使用者设备提供电源、并控制与使用者设备交换数据的读写器（Proximity Coupling Device）PICC：在耦合设备上操作、卡片类型为ID-1（大卡尺寸）的识别卡（Proximity Card）SAK：Type A的选择确认（Select AcKnowledge,Type A）SFGI：启动帧保护时间整数（Start-up Frame Guard time Integer）SPY：侦测监测设备 tF：信号幅度从90%下降到10%的时间（fall time between 90%and 10%of signal amplitude）tR：信号幅度从10%上升到90%的时间（rise time between 10%and 90%of signal amplitude）UID：Type A卡的唯一标识符（Unique Identifier）VPP：编程电压（programming voltage）VPP：VPP触点上测量到的编程电压（programming voltage measured onVPP contact）WUPA：Type A的PICC唤醒命令（Wake-UP Command,Type A）5 终端接触部分的机电特性、逻辑接口、传输协议测试 测试环境 机电特性是卡片与终端设备交互的硬件基础，只有机械特性和电特性符合要求，终端才可以与卡片正常交互。本部分5.2是对机械特性和电特性的测试要求。逻辑接口、传输协议是卡片与终端设备信息交换的通道基础。本部分5.3是对逻辑接口和协议传输的测试要求。本部分默认测试环境条件若无特殊说明，均在正常大气条件下进行，即：温度：1535；相对湿度：45%75%；大气压：86 kPa106 kPa。机电特性测试 5.2.1 物理特性 LD/T 6001.42023 3 物理特性的测试方法如下。a)测试目的：确保终端的接口设备能够接受所有物理特性符合 LD/T 32.2 中 5.2 要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端用标准电源供电；3)测试卡。c)测试流程：待测终端正常上电，插入标准系列测试卡，通过测试卡进行检测，从终端中拔出测试卡。d)通过标准：1)标准系列测试卡可以无阻碍地插入到待测终端中；2)正确执行卡片操作；3)标准系列测试卡可以无阻碍地从待测终端中拔出；4)接口设备不应对卡片有物理损坏，卡片性能正常。5.2.2 触点压力 触点压力的测试方法如下。a)测试目的：确保终端任何一个接口设备触点对相应的卡触点所施加的压力符合 LD/T 32.2 中5.2 的要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端无需上电；3)测试卡。c)测试流程：将触点压力测试卡插入待测终端，对相应的触点测量 35 次。d)通过标准：每一次触点的测量值都应在 0.2N0.6N 范围之间。5.2.3 ICC 连接器寿命 ICC连接器寿命的测试方法如下。a)测试目的：确保 ICC 连接器寿命满足 LD/T 32.2 中 5.2 的要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端无需上电；3)ICC 连接器自动测试仪器。c)测试流程：将待测终端固定在工具相应位置，测试仪器对 ICC 连接器进行自动拔插测试。d)通过标准：30 万次拔插测试后，ICC 连接器不应损坏，仍可正常工作。5.2.4 I/O 电特性 I/O电特性的测试方法如下。a)测试目的：确保终端 I/O 电特性满足 LD/T 32.2 中 5.3 的要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)测试仪器。c)测试流程：待测终端测试方法参见 GB/T 17554.3。d)通过标准：测试结果满足 LD/T 32.2 的要求。5.2.5 短路保护 短路保护的测试方法如下。a)测试目的：确保 ICC 连接器任何两个触点间发生短路，终端都不会被损坏或功能失常。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端按流程工作；LD/T 6001.42023 4 3)短路测试板。c)测试流程：待测终端按测试流程工作时，插入短路测试板 15 秒。d)通过标准：执行完短路保护测试流程，终端应可正常工作。逻辑接口、传输协议测试 5.3.1 上电时序 上电时序的测试方法如下。a)测试目的：确保终端对卡片上电时，终端触点根据预定时序进行激活，冷复位、热复位操作过程满足 LD/T 32.2 中 6 的要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端上电；3)测试仪器；4)测试软件。c)测试流程：待测终端根据测试要求发起上电复位操作，采用测试仪器监控操作过程。d)通过标准：测试结果满足 LD/T 32.2 的要求。5.3.2 下电时序 下电时序的测试方法如下。a)测试目的：确保终端对卡片下电时，终端触点的释放时序满足 LD/T 32.2 的要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端上电；3)测试仪器；4)测试软件。c)测试流程：待测终端根据测试要求发起下电操作，采用测试仪器监控操作过程。d)通过标准：测试结果满足 LD/T 32.2 的要求。5.3.3 复位应答时间 复位应答时间的测试方法如下。a)测试目的：确保等待时间满足 LD/T 32.2 的要求。b)测试条件：1)默认环境条件；2)待测终端正常工作；3)测试卡；4)测试软件。c)测试流程：模拟不同等待时间的测试卡，终端进